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FT160 XRF镀层测厚仪
- 型号
- FT160
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日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津，在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器的产品系列包括：
§ 微焦斑XRF镀层分析仪：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。
§ 专业RoHS分析仪：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专为“有害物质限制”分析而设计，快速且易用，其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。
§ 锂离子电池分析：EA8000A X射线粒子污染物分析仪专用于快速有效地控制锂离子电池生产的质量。
§ 热分析：热分析系列仪器DSC600、DSC200、STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100已经过优化，可检测和显示超小的反应，同时具有稳定可靠和易用等特点。
§ 手持式分析仪：数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术以简单、快速、无损分析的方式实现合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查。Vulcan由LIBS激光技术驱动，可在一秒钟内识别金属合金；非常有利于企业处理大量金属，是世界上超快速分析仪之一。
§ 多功能台式XRF分析仪：Lab-X5000和X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。
§ OES金属分析仪：全球许多行业使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直读光谱仪进行高精密度金属分析。
详细信息
FT160 XRF镀层测厚仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
FT160 XRF镀层分析仪的多毛细管光学元件可以测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层，先进的检测器技术可为您提供高精度，同时保持较短的测量时间。其他功能，例如大样品台、宽样品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗，可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用，与您的 QA / QC 流程无缝集成，在问题危机发生前提醒您。
产品亮点
FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计，针对最小的特征进行了优化。
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用于从安全距离查看分析的大观察窗
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测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准
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IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测
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用于快速样品设置的自动特征定位
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为您的应用优化的分析仪配置选择
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在小于 50 µm 的特征上测量纳米级镀层
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将传统仪器的分析通量提高一倍
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可容纳各种形状的大型样品
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专为长期生产使用的耐用设计
| FT160 | FT160L | FT160S | |
| 元素范围 | Al – U | Al – U | Al – U |
| 探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) | 硅漂移探测器 (SDD) | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管阳极 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
| 光圈 | 多毛细管聚焦 | 多毛细管聚焦 | 多毛细管聚焦 |
| 孔径大小 | 30 µm @ 90% 强度（Mo tube） 35 µm @ 90% 强度（W tube） | 30 µm @ 90% 强度（Mo tube） 35 µm @ 90% 强度（W tube） | 30 µm @ 90% 强度（Mo tube） 35 µm @ 90% 强度（W tube） |
| XY轴样品台行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
| 最大样品尺寸 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
| 样品聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 |
| 测试点识别 | ✔ | ✔ | ✔ |
| 软件 | XRF Controller | XRF Controller | XRF Controller |
