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HO-A216MOE-PH holmarc HO-A216MOE-PH 磁性材料表征椭偏仪
- 型号
- HO-A216MOE-PH
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详细信息
holmarc HO-A216MOE-PH 磁性材料表征椭偏仪推出了一种使用VIS-NIR波长的新型创新型高灵敏度和高磁场光谱椭偏测量设备。HOLMARC A216测试站提供标准化的测试解决方案，以适合广泛的旋光度测量应用。模块化硬件设计使用户可以在磁场和无磁场的情况下自动进行液体，固体和薄膜样品的测量。
设计用于磁光材料的研究和测试，包括铁磁和亚铁磁薄膜和材料的磁特性。测量包括超薄磁性膜和多层的磁滞回线，椭圆率测量，介电材料的薄膜厚度测量，折射率，Δ和psi测量等。系统可以在极性，纵向和横向配置下运行。
| 光源 | ： | 光谱卤素灯，氘灯/卤素灯或氙弧灯 |
| 单色仪 | ： | Quasar 300F Czerny-Turner类型 |
| 波长范围 | ： | 350-900纳米 |
| 准直聚焦镜 | ： | 直径50 mm，300 F |
| 光学光栅 | ： | 1200升/毫米 |
| 光谱色散 | ： | 2.6纳米/毫米 |
| 光栅尺寸 | ： | 50 x 50毫米 |
| 衍射效率 | ： | 45％-65％ |
| 狭缝宽度 | ： | 0〜3 mm连续可调 |
| 解析度 | ： | 0.1纳米 |
| 波长精度 | ： | 0.2纳米 |
| 波长重复性 | ： | 0.1纳米 |
| 杂散光 | ： | 10 -3 |
| 线性色散的倒数 | ： | 2.7毫米 |
| 谱线的半宽度 | ： | 0.2纳米@ 586纳米 |
| 极化分析法 | ： | 旋转分析方法 |
| 武器 | ： | 步进电机控制的自动定位 |
| 光斑直径 | ： | 1-5毫米 |
| 薄膜支架样品量 | ： | 1-12毫米 |
| （可应要求提供定制架） | ||
| 比色杯 | ： | 10毫米路径长度石英比色皿 |
| 样品室选项 | ： | 高/低温样品架 |
| 样品进料单元 | ： | 步进电机控制自动定位系统 |
| 电磁单元 | ： | PC控制恒流运行 |
| 冷却 | ： | 水冷 |
| 高 磁场 | ： | 1.75特斯拉@ 12毫米极距 |
| 小 现场检测 | ： | 1高斯 |
| 磁场精度 | ： | ±0.05％ |
| 现场检测 | ： | 基于霍尔探头（基于PC的现场测量） |
| 磁场反馈 | ： | 霍尔元素 |
| 冷水机 | ： | 5〜25°C冷冻水（用于冷却电磁铁） |
| 体积 | ： | 2升/分钟 |
| 电磁电源 | ： | 双极型（大±90 V / 5A） |
| 电磁电源 | ： | 2.5 kVA交流220V 50Hz |
| 控制单元 | ： | 1 kVA交流220V 50Hz |
| 软件 | ： | Spectra ORMS软件 |
性能
旋光度测量分辨率：±0.009度
检测灵敏度：0.009度（透明度大于20％）。
稳定性：0.03度（透明度大于20％）。
椭圆度测量：±0.01度。
旋光度测量范围：±90度。
测量波长范围：350-900 nm
光谱带宽：1 nm（可变带通至10nm）
高 磁场：17,500高斯
小 场检测：1高斯
磁场精度：±0.05％
测量项目
或测量具有法拉第效应的薄膜，晶体，液体等
透明固体和液体的测量维尔德常数
法拉第旋转/椭圆角
极角Kerr旋转/椭圆率角
所需波长下的磁场与法拉第旋转角特性
法拉第旋转角度与波长色散特性
法拉第旋转角度与热依赖性的关系（可选）
测量光学性质
旋光度
膜厚
折光率
吸收系数
光电导率
相速度
组索引
布鲁斯特角
空气中的折射率
摩尔折射率
光子能量
规范动量
动量
组速度
PSI-Delta
Epsilon 1和2
此款产品不用于医疗，不用于临床使用，此产品仅用于科研使用。
