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FlatQUAD 布鲁克能谱仪

型号
FlatQUAD
参数
窗口类型:无窗 分辨率:126eVeV 峰背比:NA 价格区间:面议 探测器类:硅漂移探测器(SDD) 探测器面积:60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm 仪器种类:进口 应用领域:医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合 最大计数率:大于4,000,000 cpscps 元素检测范围:B (5) to Am (95)
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企业文化:

科技是企业持续发展的源泉,诚信是企业和员工立足之本。公司通过各种有益培训使得员工具有良好的职业素养和职业技能,努力给客户带来好的服务体验。  

 

服务项目:

SEM&EDX&Ion Sputter&Ion milling设备销售以及二手产品的回收、置换、租赁
及以上设备安装、调试、维修、保养、教育训练、应用培训
相关备品配件销售

 

服务时效:

电话:两小时内响应
到达现场:24小时内

 

 

详细信息

FlatQUAD布鲁克能谱仪是一款平插式探测器.置于扫描电镜极靴和样品之间。四块硅漂移品体成环形排列于中心孔四周,入射电子束从中心孔穿过。适用于不同的工作距离并具有优异的性能。

OUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash' FlatQUAD探测器的EDS微区分析系统。这一*设计的环形四通道SDD探测器工作时位于扫描电镜极靴和样品之间,能够获得EDS分析较大的固体角。结合ESPRIT分析软件QUANTAXFlatQUAD系统对于传统斜插式能谱很难分析的样品,可提供优的元素面分布效果。


使用新的探测器技术

QUANTAX FlarQUAD系统的核心一-XFlash FlarCUAD探测探测福配置了不同厚度的特殊聚合物窗口,可吸收不同器。基于新颖的探测器设计理念.安装于扫描电镜样晶加速 电压下的背散射电子。仓的水平接口,使探测器置于电镜极靴和样品之间。而传统的探测器则采用电镜的倾斜接口。XFlash" FlatOUAD探测器能够与不同类型的扫描电镜兼容。

FlatQUAD布鲁克能谱仪探测器的探头组件中,四个独立的硅漂移芯片成环形排列于中心孔四周,入射电子束从该中心孔穿过。探测器材料经过特殊选择.避免对电子束产生影响.保证高质量的电镜图像。


 


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产品参数

窗口类型 无窗
分辨率 126eVeV
峰背比 NA
价格区间 面议
探测器类 硅漂移探测器(SDD)
探测器面积 60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm
仪器种类 进口
应用领域 医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合
最大计数率 大于4,000,000 cpscps
元素检测范围 B (5) to Am (95)
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