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OLI 光纤微裂纹检测仪
- 型号
- OLI
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武汉东隆科技有限公司（以下简称“东隆科技”）创立于1997年，坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。
武汉东隆科技有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节，主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、TW/PW激光系统六大光学应用领域。
成立至今，东隆科技秉持“服务创造未来”的宗旨，为客户提供迅捷、高品质的服务，倍受广大客户的信赖。东隆科技在多年技术积累的同时，聚集了一批光学、电学的技术人才，能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作，并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
详细信息
OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。
该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
特点：
超高采样分辨率和定位精度
采样分辨率1 μm
回损测量范围-10 dB~90 dB
可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级
应用：
光纤微裂纹检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
FA光纤阵列链路性能检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
光纤微裂纹检测仪的参数：
主要参数 | ||
基础参数 | ||
工作波长1 | 1290~1330/1530~1570 | nm |
测量长度2 | 6 12 45 90 | cm |
采样分辨率 | 1 | μm |
定位精度 | 0.3 | mm |
测量时间3 | <10s <30s | s |
回损测量范围 | -20~-100 | dB |
回损重复精度 | ±3 | dB |
硬件 | ||
输入电压 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主机功率 | 60 | w |
通讯接口 | USB | - |
引纤长度4 | 1 | m |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储藏温度 | 0~50 | ℃ |
工作温度 | 0~40 | ℃ |
工作湿度 | 10~70 | %RH |
备注： 1.可选其它波段； 2.可定制其他长度；3.测量时间与测试长度相关 4.引纤长度可定制。
