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AF-X010 优可测半透明膜厚度测量仪

型号
AF-X010
参数
产地类别:国产 价格区间:面议 应用领域:能源,电子,航天,汽车,综合
板石智能科技(深圳)有限公司

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白光干涉仪,三维形貌测量仪,表面轮廓仪,台阶仪,粗糙度仪

公司介绍0915-C01_00.png






详细信息

ATOMETRICS优可测是板石智能旗下专注于高精测量领域的国产自主品牌,致力为半导体、精密光学、新能源、3C消费类电子、医疗、刀具、航空航天等行业和高校提供三维测量产品、解决方案及相关服务,产品精度覆盖到微米、纳米甚至亚纳米级,满足生产、研发和品控过程中表面粗糙度、台阶、3D形貌、三维形貌比对、高度、平面度、几何图形、平面尺寸、3D轮廓等各种测量需求。优可测半透明膜厚度测量仪,精度达0.1nm,多层膜测量---可测10层膜,毫秒级别的采样频率,比传统膜厚仪提升2~3倍,更适合在线使用,优可测支持客制化,根据客户需求定制。

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产品参数

产地类别 国产
价格区间 面议
应用领域 能源,电子,航天,汽车,综合
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详询客服 : 0571-87858618
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