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LUPHOScan 50 SL
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泰勒霍普森
泰勒霍普森轮廓仪 设计和生产的优势
泰勒霍普森圆度仪超高重复精度 - 30 nm PV (3σ)
泰勒霍普森圆度仪稳定性 - Power 变化 < ± 15 nm (3σ), PV 变化 < ± 1.5 nm (3σ)
泰勒霍普森圆度仪几何特征分析 - 如与光学表面相关的定位锁紧面和边缘直径
泰勒霍普森圆度仪超薄透镜 - 最小厚度可达 100 μm
泰勒霍普森圆度仪真正3D的高速测量 - < 120 秒 - 光学表面和空间几何特征测量*，< 60 秒 - 仅测量光学表面**
LUPHOScan 50 SL - 3D Analysis
* 如平面、坎合面和边缘直径
** 取决于几何形状和横向分辨率
非接触式3D手机镜头测量系统
LUPHOScan SL 适用于小透镜的大批量测量，主要优势包括超快的测量速度和透镜几何特征的测量能力。
