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FISCHERSCOPE X-RAY XAN
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FISCHERSCOPE X-RAY XAN
菲希尔X射线测厚仪Fischer代理特点
菲希尔X射线测厚仪根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪
半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率
XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；
准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm
菲希尔X射线测厚仪基本滤片：固定或6种可切换
菲希尔X射线测厚仪固定样品支架或手动XY载物台
菲希尔X射线测厚仪摄像头可轻松定位最佳测量位置
样品高度最多17厘米;
