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蔡司 Xradia 410 Versa X射线显微镜
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德国蔡司ZEISS光学显微镜、超景深显微镜、电子显微镜、X射线显微镜、三坐标等设备。
北京凯瑞永科技有限公司成立于2021年，拥有一支具备多年工作经验、技术精良的业
务工程师团队。
北京凯瑞永科技有限公司主要销售德国蔡司工业质量领域的工业显微镜、电子显微镜及
X射线显微镜等相关产品。经过多年的积累与发展，北京凯瑞永能为广大客户提供技术咨询、
产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的全套专业服务。
北京凯瑞永客户主要涵盖汽车制造、航天航空、船舶军工、电力、石油石化、电子半导
体等行业，高等院校、科研院所、工业材料、军工系统、压力容器、特种检测、新型材料研
发、精密仪器制造等领域。中国商飞、济南重汽、宇通客车、长城汽车、北京奔驰、富士康、
比亚迪、中通客车、金雷风电、洛阳中收、三一重工等企业都是我们长期服务的优质客
户。
蔡司工业质量解决方案
您多维工业质量解决方案的合作伙伴
我们的产品包括坐标测量机、光学三维扫描系统和多传感器系统、工业显微系统以及应
用于汽车、飞机、机械工程、塑料和医疗技术行业等的计量软件。同时，作为富有创新的产
品和服务提供商，蔡司工业质量解决方案不断攀登科技高峰，开发用于质量检验的三维X
射线等创新技术以完善产品组合。蔡司工业测量技术部生产和供应多维测量实验室、数控
三坐标测量机和解决方案。该公司是汽车行业的合作伙伴和供应商。在四
个国家的生产基地和全球100多个销售和服务点，一共拥有2,400名员工。
详细信息
蔡司Xradia410VersaX射线显微镜总体描述
Xradia410Versa高性能三维X射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。
XradiaVersa显微镜架构运用了两级放大倍率技术，从而让您不受工作距离的限制，始终保持较高空间分辨率（RaaD）。在第一级中，使用传统micro-CT系统借助几何放大倍率来放大样品图像。在第二级中，闪烁器会将X射线转换成可见光，然后再进行光学放大。降低对几何放大倍率的依赖使XradiaVersa显微仪器可以在较长工作距离内保持亚微米分辨率，从而让您能够更高效地研究不同大小的样品，包括在原位样品室内。
无损三维成像，更大限度保护和扩展贵重样品的利用率
<0.9µm的空间分辨率和100nm体素大小
适用于低原子序数材料和软组织的先进成像衬度解决方案
业界的四维和原位成像技术，适用于不同尺寸和材料类型的样品
搜索和扫描（Scout-and-Scan™）功能可实现多用户环境下的简化工作流程
大负荷样品台、扩展的光源及探测器行程
几乎无样品制备需求
通过多级放大探测器实现轻松导航
利用自动多点断层成像和重复扫描实现连续操作
高速重构
可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内（如线缆和管线）的配套设施，为实现原位实验更高3D分辨率提供更优异的成像性能和轻松设置
可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品，提高了生产效率，全自动工作流程可用于大体积扫描
特点：
业界的四维和原位成像性能，适用于多种样品尺寸和样品类型
Xradia410VersaX射线显微镜为多种样品和研究环境提供了经济灵活的3D成像解决方案。无损X射线成像技术确保了贵重样品的利用率。这款显微镜可以实现900nm的真实空间分辨率和100nm的可实现体素。先进的吸收和相位衬度技术（可用于软材料和低原子序数材料）提供了更多的功能克服传统计算机断层扫描技术的局限性。
XradiaVersa超越了传统微米CT和纳米CT系统的限制，为拓展您的研究打下坚实的基础。传统断层扫描技术仅依赖于单级几何放大，而Xradia410Versa依靠同步辐射的光学器件，采用了蔡司的两级放大技术。XradiaVersa系列拥有灵活的衬度、高易用性和蔡司突破性的大工作距离下的高分辨率（RaaD）特性，实现在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行的探索。多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像，使其能表征材料随时间（4D）或在模拟的环境条件下（原位）的演化。
另外，搜索和扫描控制系统（Scout-and-Scan）可根据不同的设置实现多种工作流程环境，使得Xradia410Versa方便不同经验水平的用户使用。
Xradia410Versa高性能三维X射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。
XradiaVersa显微镜架构运用了两级放大倍率技术，从而让您不受工作距离的限制，始终保持较高空间分辨率（RaaD）。在第一级中，使用传统micro-CT系统借助几何放大倍率来放大样品图像。在第二级中，闪烁器会将X射线转换成可见光，然后再进行光学放大。降低对几何放大倍率的依赖使XradiaVersa显微仪器可以在较长工作距离内保持亚微米分辨率，从而让您能够更高效地研究不同大小的样品，包括在原位样品室内。
无损三维成像，更大限度保护和扩展贵重样品的利用率
<0.9µm的空间分辨率和100nm体素大小
适用于低原子序数材料和软组织的先进成像衬度解决方案
业界的四维和原位成像技术，适用于不同尺寸和材料类型的样品
搜索和扫描（Scout-and-Scan™）功能可实现多用户环境下的简化工作流程
大负荷样品台、扩展的光源及探测器行程
几乎无样品制备需求
通过多级放大探测器实现轻松导航
利用自动多点断层成像和重复扫描实现连续操作
高速重构
可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内（如线缆和管线）的配套设施，为实现原位实验更高3D分辨率提供更优异的成像性能和轻松设置
可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品，提高了生产效率，全自动工作流程可用于大体积扫描
特点：
业界的四维和原位成像性能，适用于多种样品尺寸和样品类型
Xradia410VersaX射线显微镜为多种样品和研究环境提供了经济灵活的3D成像解决方案。无损X射线成像技术确保了贵重样品的利用率。这款显微镜可以实现900nm的真实空间分辨率和100nm的可实现体素。先进的吸收和相位衬度技术（可用于软材料和低原子序数材料）提供了更多的功能克服传统计算机断层扫描技术的局限性。
XradiaVersa超越了传统微米CT和纳米CT系统的限制，为拓展您的研究打下坚实的基础。传统断层扫描技术仅依赖于单级几何放大，而Xradia410Versa依靠同步辐射的光学器件，采用了蔡司的两级放大技术。XradiaVersa系列拥有灵活的衬度、高易用性和蔡司突破性的大工作距离下的高分辨率（RaaD）特性，实现在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行的探索。多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像，使其能表征材料随时间（4D）或在模拟的环境条件下（原位）的演化。
另外，搜索和扫描控制系统（Scout-and-Scan）可根据不同的设置实现多种工作流程环境，使得Xradia410Versa方便不同经验水平的用户使用。
