SM230 自动光学薄膜厚度扫描测绘仪

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自动光学薄膜厚度扫描测绘仪。

SM230自动光学薄膜厚度测绘仪由测绘主机、测绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪和高精度的旋转平台。

1.产品特点：

·非接触式、非破坏性的测试系统；

·超长寿命光源，更高的发光效率；

·高分辨率、高灵敏度光谱仪，测绘结果更准确可靠;

·软件界面直观，操作方便省时；

·测绘速度快，支持多点测绘点位地图绘制;

·支持绘制样品2D/3D厚度分布图；

·高精度、长寿命的3轴旋转平台；

·历史数据存储，帮助用户更好掌握结果;

·桌面式分布设计，适用场景丰富;

2.应用领域：

·半导体镀膜    ·光学镀膜     ·液晶显示    

·微电子系统    ·生物医学

3. 选型与规格参数：

光学膜厚仪通过测量薄膜的光学性质来确定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波长的光线下会发生干涉现象。当光线穿过薄膜时，会发生反射和透射，反射和透射的光线会发生干涉，形成明暗条纹。通过测量这些干涉条纹的特征，可以计算出薄膜的厚度。

光学膜厚仪通常使用白光或单色光源照射在薄膜上，然后测量反射光的强度或干涉条纹的间距，从而推断出薄膜的厚度。这种方法适用于各种类型的薄膜，如光学镀膜、涂层、光学薄膜等。通过光学膜厚仪可以非常精确地测量薄膜的厚度，广泛应用于光学、电子、材料等领域。