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Compact WIL 瑞士丹青进口白光干涉微观形貌粗糙度仪
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- Compact WIL
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瑞士丹青科技集团成立于1986年，是集研发、生产、销售、技术服务于一体的计量检测设备和几何量测量解决方案供应商。集团由瑞士计量设备生产厂TRIMOS、SYLVAC、 WYLER、KUNZ共同投资创建，同时整合了欧美一些计量仪器厂家，旗下投资合作的品牌有：德国WERTH、 OPTACOM、JENA、LAMTECH、F.S.G、OPTOSURF、OMT；荷兰的IAC；英国的RPI、ABERLINK;奥地利的EMCOTEST等。
集团在国内设有11个办事处，协助各领域客户全面提升产品品质，提供优质全面的解决方案。产品覆盖车间用的数显量具、测高仪、在线三坐标、便携三坐标、关节臂、轴类检查仪、便携式粗糙度仪、高精度工业仿形胶泥、检漏仪、工业内窥镜和实验室用的测长机、螺纹综合测量机、球径测量仪、表类检查仪、激光平面度测量机、垂直度仪、直线度检查仪、精密转台、轮廓粗糙度仪、三维缸体检测仪、微观形貌/光学粗糙度测量仪、激光散射粗糙度仪、复合式光学三坐标、X射线复合式光学三坐标测量中心、大型轮廓投影仪、刀具测量仪、叶片白光测量机、硬度计、金相等。
详细信息
瑞士丹青进口白光干涉微观形貌粗糙度仪
瑞士丹青Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术，其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理，大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有：物体表面的不同粗糙度特性（晶圆结构、镜面、玻璃、金属等）、确定高度变化以及曲面的精密测量（如微透镜等）。
WLI白光干涉传感器特点：
直接3D测量 非常快速 高精度，分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉镜头 50x以上干涉镜头用于高反射表面 集成拼接功能 测量范围最大400µm 适用于所有材料 高速压电陶瓷Z轴 2百万或5百万像素摄像头(根据测量需求配置) Trimos提供基于WLI技术的先进解决方案并通过 Trimos Nanoware测量软件对整个测量过程进行控制和分析。 Trimos在本领域进行了广泛的研究并积累了丰富的经验，因而能提供高效、稳定、精确的分析算法。
瑞士丹青进口白光干涉微观形貌粗糙度仪
瑞士丹青TR-SCAN微观形貌光学粗糙度测量仪，广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比，测量速度快，对振动不敏感，实现三维形貌纳米级测量。模块化的设计理念，可配置色谱共焦传感器，白光干涉传感器。传感器直接更换，方便快捷，满足不同的应用领域。即可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产品、微型电机系统、半导体等行业。
