变温霍尔效应实验仪 型号：H11892

变温霍尔效应实验仪霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量，进行半导体导电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。        

主要技术指标

1．电磁铁          0-300mT连续可调

2. 励磁电源       0-5A连续可调  可自动换向       稳定性﹤±0.1%

3. 数字特斯拉计              0-2000mT       三位半数字显示   分辨率0.001

4. 恒流源输出       1mA       稳定性±0.1%

5. 数据采集系统霍尔电压测量分辨率1uV

6. 温度变化测量范围           80-400K

7. 整套仪器由电磁铁系统、电源控制系统机箱、测量系统主机、恒温器四部分组成

8. 探头样品采用单晶锗片

2. 纳米微粒制备实验仪 型号：H11891

一、基本原理

微粒制备的方法很多,按制备方法可分为物理方法和化学方法。按制备路经分，可分为粉碎法和聚集法。

本实验仪采用电阻加热，气体冷凝法制备纳米微粒。

二、仪器组成

如图所示

纳米微粒制备实验仪外型图   仪器照片

实验仪器：

玻璃真空罩G置于仪器顶部真空橡皮圈的上方。平时真空罩内保持一定程度的低气压，以维护系统的清洁。当需要制备微粒时，打开阀门Ｖ2让空气进入真空室，使得真空室内外气压相近即可掀开真空罩。真空罩下方真空室底盘Ｐ的上部倒置了一只玻璃烧杯Ｆ，用作纳米微粒的收集器。两个铜电极Ｉ之间可以接上随机附带的螺旋状钨丝Ｈ。铜电极接至蒸发速率控制单元，若在真空状态下或低气压惰性气体状态下启动该单元，钨丝上即通过电流并可获得1000℃ 以上的高温。真空底盘Ｐ开有四个孔，孔的下方分别接有气体压力传感器Ｅ，以及连结阀门Ｖ1、Ｖ2和电磁阀Ｖe的管道。气体压力传感器Ｅ连结至真空度测量单元，并在数字显示表Ｍ1上直接显示实验过程中真空室内的气体压力。阀门Ｖ1通过一管道与仪器后侧惰性气体接口连结，实验时可利用Ｖ1调整气体压力，亦可借助Ｖe调整压力。阀门Ｖ2的另一端直通大气，主要为打开钟罩而设立。电磁阀Ｖe的另一端接至抽气单元并由该单元实行抽气的自动控制，以保证抽气的顺利进行并排除真空泵油倒灌进入真空室。蒸发控制单元的加热功率控制旋钮置于仪器面板上。调节加热器时数字显示表Ｍ2直接显示加热功率。

三、主要技术指标

真空度<0.01KPa

气体压力测量范围0.01KPa ～120KPa   四位半数字显示

加热功率0  ～200W

功率测量  三位半数字显示

电源  220V  50Hz

四、操作步骤

1.准备工作

（1）检查仪器系统的电源接线、惰性气体连结管道是否正常。惰性气体最好用高纯Ar气，亦可考虑使用化学性质不活泼的高纯Ｎ2气。

（2）利用脱脂白绸布、分析纯酒精、仔细擦净真空罩以及罩内的底盘、电极和烧杯。

（3）将螺旋状钨丝接至铜电极。

（4）从样品盒中取出铜片（用于纳米铜粉制备），在钨丝的每一圈上挂一片，罩上烧杯。

（6）合上开关Ｓ2，此时抽气单元开始工作，电磁闭Ｖe自动接通，真空室内压力下降。下降至一定值时关闭Ｓ2，观察真空度是否基本稳定在该值附近，如果真空度持续变差，表明存在漏气因素，检查Ｖ1、Ｖ2是否关闭。正常情况下不应漏气。

（7）打开阀门Ｖ1，此时惰性气进入真空室，气压随之变大。

（8）熟练上述抽气与供气的操作过程，直至可以按实验的要求调节气体压力。

（9）准备好备用的干净毛刷和收集纳米微粉的容器。

2.制备铜纳米微粒。

（1）关闭Ｖ1、Ｖ2阀门，对真空室抽气至0.05ｋＰａ附近。

（2）利用氩气（或氮气）冲洗真空室。打开阀门Ｖ1使氩气（或氮气）进入真空室，边抽气边进气（氩气或氮气）约５分钟。

（3）关闭阀Ｖ1，观察真空度至0.13ｋＰａ附近时关闭Ｓ2，停止抽气。此时真空度应基本稳定在0.13ｋＰａ附近。

（4）沿顺时针方向缓慢旋转加热功率旋钮，观察加热功率显示器，同时关注钨丝。随着加热功率的逐渐增大，钨丝逐渐发红进而变亮。当温度达到铜片（或其它材料）的熔点时铜片熔化，并由于表面张力的原因，浸润至钨丝上。

（7）在2×0.13ｋＰａ，５×0.13ｋＰａ，1０×0.13ｋＰａ及３０×0.13ｋＰａ处重复上述实验步骤制备，并记录每次蒸发时的加热功率，观察每次制备时蒸发情况有何差异。

3.小型制冷和制冷性能实验仪  型号：H11890

由小型制冷试验机和制冷性能实验仪两部分组成，可获得温度—时间响应特性，制冷量—温度特性，制冷系数和制冷效率并进行热过程分析。

4.固体数字熔点仪 数字熔点仪 型号：H11887

用于观察和测量固体材料的熔化特性，进而分析判断单质材料的类型和分析判断二组分体系熔解特性并获取该组分体系的相图。真空炉透明，目视熔化过程，无烟雾等有害气体产生。恒流源、毫伏表均采用数字显示。

功能：

H11887 -1型数字熔点仪是为大学物理实验和物化实验课程用于观察和测量固体材料的熔解特性而设计的实验教学仪器。利用本仪器测量熔化了的固体样品在均匀冷却过程中的温度——时间冷却曲线（亦称步冷曲线），可以分析和判断单质材料的类型（晶体、非晶体），测量晶体材料的熔点，分析和判断二组份体系熔解特性并获取该组份体系的相图。

仪器特点：

     1.  材料样品炉真空透明，目视熔化过程，无烟雾等有害气体产生；

     2.  有完善的多级控温装置，安全可靠；

     3.  样品炉炉温升、降过程直接采用数字温度表显示，直观明了；

     4.  计时器提示音有三档可选。

技术参数：

1、熔化炉加热功率 ：300W；

2、温度范围 ： 0～500℃。

  3、数字控温温度计：测量范围0～500℃,  控温设定范围 20～500℃。

4  计时器计时范围 ：1～99999秒，5位数显，

5  提示音间隔 ：  3秒、5 秒、10 秒、三档可选

6、电源 AC 220V  50Hz  2A。

5.铁电体电滞回线测量仪 型号：H11884

电滞回线测量是检测铁电体的一种主要手段。“TF_DH1铁电体电滞回线测量仪”针对教学需求而设计的，并且也可以应用到科研领域。

主要特点：内含微处理器、程控放大器；设有安全保护装置；高速数据接口；精制样品盒和样品台；软件功能丰富。

 以上参数资料与图片相对应