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霍尔效应测试仪介绍

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2018/1/16 11:28:12

霍尔效应测试仪,是用于测量半导体材料的载子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学性预掌控的,因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学性的具。

介绍

霍尔效应测试仪介绍

该仪器为性能稳定、能强大、性价比的霍尔效应仪,在内校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。

仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要性参数,如载子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。

除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。

可说是套能强大、应用广泛的系统,再加上平实的价格, 相信能受到各界用户之肯定与爱用。

广泛应用于半导体厂商。

主要点

1、度电源

输出电之度可达2nA,如此微小之电可用于半缘材料之量测,即电阻值材料之量测。

2、度电表

使用度电表,电压量测能力可达nV等,上限可达300V,适合用于量测低电阻值材料。

3、外型简、操作简单

外型轻巧、美观大方,磁铁组之性更换也很灵活容易,之液氮容器,可确保低温量测之稳定性*。

4、I-V曲线

采用图表的方式,测量探针四点(A、B、C、D)间电-电压曲线,藉此评判样品的欧姆接触好坏。

5、单纯好用之操作画面

使用者只需在同张操作画面中,就可以成所有的设定,实验结果由软件自动计算得到,并在同张画面中显示出来,省却画面切换的麻烦,结果可同时得到体载子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。

6、自行开发之弹簧样品夹具,殊之弹簧探针,其强度加强可改善探针与接触点之电气接触,提量测之可靠度。

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