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XRF元素分析仪功能及测量影响要素

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2018/1/23 10:44:57
XRF元素分析仪是一种对被测物质从元素成分及含量的角度进行测定的技术,以随钻获取的岩屑粉末为分析对象,从中获得元素组成(组分、含量及分布规律)信息,通过元素组合特征而识别岩性、判断划分地层、进一步开展深层次的数据分析处理,寻找与储集层物性、含油气性规律,实现评价储集层的目的。
 
作为精密元素分析仪器之一,XRF分析仪在分析元素时,经常会出现同一个样品检测的精度不一样的现象,多数操作者多一位是仪器出现故障。其实不然,那么XRF这款精度仪器在使用过程中,会受到那些因素的影响而导致结果出现偏差。
时间
一般来说,检测的时间越长,精度就越,ROHS30~600秒;合金分析仪10~60秒;矿石分析仪:30~90秒,
均质
样品一定要均匀,尽量不要出现凹凸不平,凹凸的样品很容易出现偏差。样品额平面放在某处,
材质
不同的物质结果不一致,那是肯定的就算同是合金材料也分铁、铝、镁等不同元素组成。
粒度
被检测的样品越小越好,样品大小和仪器的显示屏差距不大是,如果检测样品过于庞大,比较容易出现样品元素组成不一样,导致元素的含量与成分结果就不一样。
厚度
XRF元素分析仪有个很明显的特点,就是对样品的厚度有一定限制,特别是很多合金样品可能会在材料商涂层铜、金属、塑胶,这个时候检测材质需要对样品的表层进行处理,才能保证检测结果的。
 
合金材料的*检测厚度:
聚合物与轻合金固体5MM
其他合金1MM;
液体15MM,
湿度:干燥
元素干扰
样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其它元素的干扰
典型的干扰如下:
镉:可能的干扰来自溴,铅,锡,锑
铅:可能的干扰来自溴
汞:可能的干扰来自溴,铅,以及样品中高浓度的钙和铁
铬:可能的干扰来自氯
溴:可能的干扰来自铁及铅
 
XRF元素分析仪功能十分强大,测试范围从Na(11)到U(92),检测浓度范围宽广。XRF元素分析仪可广泛应用于需要几分钟内得到元素组分分析结果的领域,包括许多现代工业和应用科学。XRF元素分析仪具有诸多特点,包括*自动化测量;用户界面直观友好,使使用的用户,也能轻松操作;无耗时的样品前处理;测试样品可以是任何形状等等。

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