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EC-770S高分辨率涂层测厚仪

珠海天创仪器有限公司

2018/11/6 9:58:19

EC-770S高分辨率涂层测厚仪

 

产品介绍

EC-770S高分辨率涂层测厚仪。0.1微米高精度测量,采用256*256高分辨率点阵液晶,全中文菜单界面,菜单指引直观简单,强大而易用的数据存储、回放、统计、下载功能,设置上下报警值让二手车检测更方便。

 

应用范围

本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程*的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。

 

EC-770S涂层测厚仪产品特点

256*256分辨率点阵液晶屏,标准化菜单操作;

两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous)

两种组存储模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组,存储共五组数据;

可灵活零校准和多点校准(多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;

用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除数据或整组数据;

实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),小值(Min),大值(Max),标准方差(Sdev)

三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)

可为各组单独设置高低限报警值,超*屏幕指示报警,二手车检测更方便;

可开启或关闭自动关机功能;

USB接口可传输通用组数据到计算机;

低电和错误提示;

 

技术参数

型号

EC-770S

EC-770

 

探头

铁磁性(F

非铁磁性(N

铁磁性(F

非铁磁性(N

 

原理

磁感应

涡流效应

磁感应

涡流效应

 

测量范围

0~1400um

0~1400um

0~1350um

0~1350um

 

测量精度

± (2.5%+1)

± (2.5%+1.5)

± (3%+1.5)

± (3%+2)

 

分辨率

0.1um

0.1um

0.1um

0.1um

 

其他指标

小曲率半径:凸1.5mm,凹25mm

小测量面积:直径6mm

小基材厚度:0.5mmF探头);0.3mmN探头);

校准:零点校准,并支持多4点校准;

数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单独的统计,报警上下限设置和校准设置;

统计值:支持平均值、小值、大值和标准方差;

支持单位:um, mm, mils

用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;

电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据;

电源:两节1.5V AAA电池;

操作温度:0~40℃;

保存温度:--20 to 70℃;

尺寸:110mm*53mm*24mm

重量:92g

 

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