Thermo Scientific™ Nexsa™ X射线光电子能谱仪 (XPS) 系统具有分析灵活性，可大限度地发现材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。
赛默飞X射线光电子能谱仪 标准化功能催生强大性能：
·绝缘体分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技术联合
·双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展
·用于 ARXPS 测量的倾斜模块
·用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件
·小束斑分析
可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行
·ISS：离子散射谱，分析材料表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。
·UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息
·拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息
·REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息
