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韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪

深圳市瑞思远科技有限公司

2014/2/25 15:36:48

韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪,主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器,全自动软件操作,多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,是一款功能强大的仪器

 

现在市场上膜厚仪主要有:菲希尔(FISCHER), 精工(SII),韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)。国产的有:三V仪器。在测量精度和性能上,国产的基本上是没用,只能摆着看。

 膜厚仪在稳定,故障率,和精度,方面来讲,只能说菲希尔(FISCHER)韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)这四*是。市场上占有率zui大的也是这四*,

四*主要用于五金电镀厂,钟表,端子,连接器,TED,卫浴,线路板,及一些复杂的电镀领域,如合金镀层,二元合金,三元合金,等多元合金

菲希尔(FISCHER)占有市场的30%,在测量精度,还是仪器稳定上来说都很不错。但由于价格高昂,维修,消耗品(如标准片,一片的价格可以买其他品牌的3片,且无法更换其他品牌的使用)虽然仪器精度高。稳定性好。但市场主要为早期所建立。 

        精工(SII)主要对应大的日资企业,软件应用,相比菲希尔要麻烦一些。它所采用的是标准曲线法,来建立测量档案。所以需要大量的厚度不一的标准块。仪器稳定性和精度也还是不错的。不过有一点。日本原装的,比上海组装的要好。现在精工所销售的。大部份是上海组装的。品质相对的来说。会差一点。售后维修也是高昂,且中国人民也是抵制日货的。

       韩国(MicroPioneer)和牛津(CMI),  而牛津(CMI)因为配置是zui低端的配置如CMI900所以价格比较低,测量数据没有四年前进口机型稳定。zui主要的是故障率太高了,更换配件的成本很高。CMI也是用标准曲线法来建立测量档案的。也需要购买标准块,虽然价格低。但后期一但出现故障要更换配件。而且在对于合金镀层,和薄金。薄镍,等一些元素的测量上,那个误差大的相当离谱。甚至测不到。

        韩国(MicroPioneer)有高中低3个款型,测试的准直器也有1-5个可选,除了对复杂的电镀领域(如金厚度为0.01um以下)的不是很准确,其他镀层都可以测试达到标准,主要价格方面低过菲希尔(FISCHER), 精工(SII),牛津(CMI)许多,在每年的软件更新后和硬件的升级。也受到国内厂商的大力好评,如美的(美的顺德,武汉,重庆,合肥,芜湖,都以采购使用),比亚迪(2012投标以使用),富士康(2007年使用之今)等多个客户群。可以来电 深圳市瑞思远科技有限公司 索取使用客户资料。

      

 

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下叁种:

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测  

 

应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 ) 

 

行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

 

特色

非破坏,非接触式检测分析,快速精準。

可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告

全系列*设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。

移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差

*2D3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦,搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告

光学2 0X 影像放大功能,更能对位。

单位选择: mils uin mm um

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。

仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 ASTM B568 DIN 50987

 

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,

其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;

电镀溶液分析;

定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;

贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);

自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;

性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)  

 

测厚仪,膜厚仪,X射线,XRF,韩国,微先锋,X荧光,镀层

 

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