2026年9月9日至11日，CIOE中国光博会在深圳国际会展中心(宝安)盛大举行。本届CIOE与IICIE国际集成电路创新博览会、elexcon第23届深圳国际电子展暨嵌入式展首次实现三展联动，三展聚焦“光电+半导体+电子”三大领域，集中展示行业创新成果与前沿技术。
展会现场，北京新嘉光科技有限公司(以下简称“新嘉光科技”)凭借强大的光学产品矩阵及品牌影响力，吸引众多专业观众、企业代表前往展台洽谈合作、交流行业未来发展。
新嘉光科技现场展位（展位号：3C23）
动态微观轮廓仪
动态微观轮廓仪是一种高精度表面形貌测量仪器，用于测量光滑表面的粗糙度以及百纳米以下的台阶高度。该仪器基于先进的空间移相干涉技术，通过创新的光学设计和信号处理算法，能够有效抑制环境振动和空气扰动对测量结果的影响。与传统光学轮廓仪相比，该仪器突破了厚重隔振机构的限制，具有显著的轻量化和集成化优势。其紧凑的结构设计和优异的抗干扰性能，使其特别适合在光学加工车间等工业现场环境中进行实时在线测量。这种便携式的高精度测量能力，为光学元件的加工过程监控和质量控制提供了可靠的技术手段，显著提升了光学制造过程的效率和质量保证能力。
该仪器严格遵循 ISO25178 标准，提供高精度表面形貌分析功能，涵盖粗糙度(Ra)、峰谷值(PV)等关键参数，并支持1D至3D全维度数据可视化。
核心功能与配置：
1.测量模式
单帧测量：适用于快速表面质量检测
多帧平均测量：显著提升数据稳定性，降低随机噪声影响
2.光学放大范围
配置0.9x -50x可调偏振干涉物镜组，满足从宏观轮廓到微观结构的全尺度分析需求。
3.位移机构
提供高精度三足电动位移平台，实现精准定位，确保重复定位精度优于±1 µ m。数据输出示例：
≥1D轮廓曲线：直观显示表面起伏特征
≥2D伪彩图：通过色阶映射表面宽度分布
≥3D拓扑模型：支持旋转等交互操作
动态微观轮廓仪
ColliMeter™系列产品
ColliMeter™系列产品是一款有效的辅助装调的仪器，基于Optikos公司内部30多年来精密光学系统的装调技术经验，提炼开发而成，专门用于解决平行光管、无焦系统、望远镜和准直镜等光学系统的装配难题，提高装调效率。覆盖可见光至长波红外，可定制波长范围。
ColliMeter™系列包含ColliMeter™ 350与ColliMeter™ 50两款型号，能够通过扫描测量被测孔径范围内的波前斜率，判断光的准直性与离焦量。此次展会现场，新嘉光科技展示的是ColliMeter™ 350，该仪器适用于瞳孔直径≤350mm 的大型光学系统，光束水平设计，可根据客户指定的光轴高度提供可选升降座。
ColliMeter™ 350
PHOTON RT UV-VIS-MWIR 分光光度计
PHOTON RT UV-VIS-MWIR 分光光度计，专为带涂层平面光学元件打造，可在 185–5200nm 超宽光谱区间实现无人值守检测。仪器无需额外加装附件，便能自动切换入射角度，完成多偏振态下透过率与绝对反射率的精准测定；搭配可选自动或手动样品台，轻松胜任多样品批量检测、样品旋转、基板扫描等多样化测试任务。
该仪器实现全自动化测量，调整入射角后无需重复基线校准，可对基板同一区域同步采集透射率与镜面绝对反射率，适用于薄膜结构反向分析，一定程度上可规避人为操作带来的误差。并拥有出众的大角度测量能力，透射测试覆盖 0-75°(可扩展至 85°)和8-75°(可扩展到85°)绝对反射率测量。
仪器可实现高达99.99% 的高精度绝对反射率测量；面对厚样品检测时，能够自动计算光束偏移量，驱动传感器实时补偿，最高可补偿 ±600mm 光束偏移，无需附加配件即可获得可靠数据，仅更换样品台还可直接开展棱镜测试。搭载升级款单色仪，输出光束高度准直、低杂散光、高信噪比；且支持光斑尺寸可调，从容应对小口径样品的测试难题。
PHOTON RT UV-VIS-MWIR 分光光度计
通过本届CIOE，新嘉光科技不仅展现了其在光学领域的综合实力，更为推动产业技术进步与协同发展作出了积极贡献。未来，新嘉光科技将继续依托自身在光学测量领域的技术积累与行业经验，为客户提供更精准、更高效的光学测量产品与一体化解决方案，助力全球光电产业高质量发展。
作者：小梦
