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IM3570 阻抗分析仪
- 型号
- IM3570
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详细信息
IM3570阻抗分析仪产品的特点
不同测量条件下，1台进行高速测量
测量电容等零部件时，有时在不同条件下（频率、电平）测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。
检查速度提高了2倍（跟以往型号相比）
和HIOKI的以往型号（3532-50）相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。
测量的反复精度提高了1位（※1mΩ，100次测量时）
功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。
广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范围内设置5位分辨率的频带（1kHz以下为0.01Hz分辨率）。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
15种测量参数
可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。
具备防止误操作的接触检查功能
装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。
广范围的测量电压/电流
外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的测量信号电平。
测试线可延长至4m
4端子的构造可降低测试线的影响，测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
IM3570阻抗分析仪主要参数
| 测量模式 | LCR模式：单一条件下测量 分析仪模式： 根据测量频率、测量电平进行扫描 （测量点：1~801，扫描方法：一般扫描/分区扫描，显示：列表显示/图表显示） 连续测量模式： 连续测量保存的条件（zui多32个） |
| 测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数都根据Z来确定） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
| 测量信号电平 | 普通模式： V模式、CV模式：5mV~5Vrms（1MHz以下）， 10mV~1Vrms（1MHz~5MHz），1mVrms步进 CC模式：10μA~50mArms（1MHz以下） 10μA~10mArms（1MHz~5MHz），10μArms步进 低阻抗高精度模式： V模式、CV模式：5mV~1Vrms（100kHz以下）， 1mVrms步进 CC模式：10μA~100mArms（100kHz以下的100mΩ和1Ω量程）， 10μArms步进 |
| 输出阻抗 | 普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示开或关 |
| 显示位数设置 | 可设置3~7位的显示位数，初始值为6位 |
| 测量时间 | 0.5ms（100kHz、FAST、显示关，代表值） |
| 测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| DC偏压测量 | 普通模式：DC0V~2.50V（10mV步进） 低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V（10mV步进） |
| 直流电阻测量 | 普通模式：测量信号电平 DC100mV~2.5V（10mV步进） 低阻抗高精度模式：测量信号电平 DC100mV~1.00V（10mV步进） |
| 比较器 | LCR模式：第1、第3项目的Hi/IN/Lo 分析模式： 区域判断（各点的Hi/IN/Lo）、 峰值判断（极大、极小的频率和值的Hi/IN/Lo） |
| 存储功能 | 主机可保存32000个数据 |
| 接口 | EXT I/O（handler） RS-232C GP-IB USB（Hi-Speed/Full-Speed） U盘 LAN（10BASE-T/100BASE-TX） |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA |
| 体积和质量 | 约330W×119H×307Dmm，约5.8kg |
