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XDLM,XULM X荧光无损膜层检测仪

型号
XDLM,XULM
深圳金东霖科技有限公司

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膜厚仪,镀层测厚仪,电镀厚度测量仪,薄膜测试仪,电镀检测仪,涂层测厚仪

     金东霖公司是德国菲希尔FISCHER膜厚测试仪、精密测试仪器代理商,德国菲希尔集团附属成员,在中国华南地区*代理菲希尔FISCHER膜厚测试仪系列。此仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!


     德国菲希尔 FISCHER成立 1953 年是世界上专业生产涂镀层测厚仪Z早的厂家之一, 其电镀膜厚仪占世界80%市场,德国菲希尔FISCHER已成为镀层厚度测量和材料测试仪器领域*的*。FISCHER X-RAY 膜厚仪采用真正的基本参数原理(FP)来测量厚度,无需标准片即可得到比较满意的测量精度。


     多年来,我们一直致力于为五金,电镀,端子。连接器,PCB 厂商,为电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意,为客户创造较大的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!


欲知详细内容,请您来电咨询!

详细信息

X荧光无损膜层检测仪采用X射线荧光的工作原理是,X 射线管产生初级射线照射在受检物质时,会激发物质放射X-射线萤光辐射,特定的元素有特定的辐射信号,接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量,样品可直接放入测量室进行测量。无损膜层检测仪不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空,便能在正常的环境下测量从元素Z=13铝到Z=92(铀),固定、浆状及液体的样本也可以测量,即使是极小不规则形状的测量面积也可快速、免接触的测量。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.

X荧光无损膜层检测仪可测量:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。

欲知详细内容,请您来电!金霖电子 岳    :29371653    公司:www.kinglinhk.com    
    地址:宝安沙井镇新桥综合大楼502 

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