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Solstice 外延晶片在线光折射检测仪

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Solstice
源顺科技仪器有限公司

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公司产品主要有:X射线衍射系统;多功能稳定度分析仪 ;奈米颗粒大小分析仪;光电制造和检测系统;粘度分析系统;粒度及微流变分析系统;数字全析显微镜;呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析;接触角及表面张力分析仪;沾笔式纳米制程技术;在线粘度计;原子薄膜沉积仪。
源顺有限公司

源顺有限公司是一家专门从事纳米科技,材料分析,光电产品检测及生产设备销售和技术咨询的高科技公司。我们*代理具有*水平的分析仪器,产品涵盖了微观结构观察,物理性能,力学性能及电磁学性能。
Total Solution ,为客户提供整体解决方案,是源顺公司一贯坚持的宗旨。 这个宗旨象征*、品质与客户服务,并将在新的世纪中,全面提升服务品质以伴随您的阔步发展。
源顺公司秉持企业文化:『诚信』、『品质』、『服务』、『团队』、『创新』,本着其宗旨『Total Solution』,继续将*的技术,以Z佳的成本效益,提供客户*质的精密分析仪器和生产设备,并坚持Z*的服务。

公司产品主要有:
LUM公司: 多功能的颗粒状态与稳定度分析仪
Qudix公司: 奈米 & 微米颗粒大小分析仪。
Scinco公司: 可见光及紫外光光度计(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在线粘度计。
ProRheo公司: 高阶粘度计。
Rame-hart公司: 接触角及表面张力分析仪。
AET 公司: 微波诱电分析仪
NANOFILM公司: 呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 双折射分析仪。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾笔式纳米制程技术。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力显微镜(AFM)
Capres公司: MRAM,写磁头的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微区范围的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (数字全析显微镜)
BEDE公司: 高分辨X射线衍射仪。
OMI公司: Solstice (晶圆或外延片的能阶Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封装应变,3D热机械变形及CTE分析)。
Pascal公司: 脉冲雷射溅镀MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉积仪 (ALD).
EpiQuest公司: 研发型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系统。


源顺公司总部设在香港,在上海和北京设立了分公司,深圳和成都设立了办事处,并有强大的技术和维修队伍,为客户提供Z高水平的产品和服务。

详细信息

外延晶片在线光折射检测仪

特 点 : 对 2”-200 mm 的晶片可以进行在线的光折射扫描,也可升级至 300mm 检测直径; 扫描范围从 0.75 eV 到 2.2 eV, 3.6 eV 可选; 在室温,禁带宽度和偏移 (Band gap/band offset) 测量可精确到 2 meV ; 可进行表面 / 界面电场测量; 入射角可从 15° 到 75°, 特别适合于 VCSEL/RCLED 晶片; *的模型软件: TDFF, FDFF, FKO 拟合;

外延晶片在线光折射检测仪

优 点 : 快速非接触式外延晶片表征; 直接测量晶片的带宽,偏移和表面 / 界面电场; 应用于统计的过程控制,提高加工稳定性; 大幅节省由于晶片破坏性实验和设备制造的费用; 提高晶片生产率;较少的校正可以提*; 控制晶片的质量,以避免进入下一步工序造成的损失; VCSEL 和 RCLED 晶片上的非破坏性实验; 应 用 : 室温下高精度禁带宽度测量; 外延晶片材料中关键部位的电场测量; 为 HBT 晶片质量和静态过程控制提供技术; 无损检测 VCSEL 和 RCLE 晶片产品质量; 可以适用多种晶片生产设备 (GaAs, InP, SiGe; GaN 可选 ) 适用于 HBT, pHEMT, LED, QWIP, 边发射激光器材料;

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