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SediGraph III Plus 全自动Χ光沉降粒度分析仪
- 型号
- SediGraph III Plus
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关于Micromeritics
品质、 专业、 可及， 这就是 Micromeritics。
Micromeritics 是提供表征颗粒、粉体和多孔材料的物理性能、化学活性和流动性的全球高性能设备生产商。我们能够提供一系列行业前沿的技术，包括比重密度法、吸附、动态化学吸附、压汞技术、粉末流变技术、催化剂活性检测和粒径测定。
公司在美国、英国和西班牙均设立了研发和生产基地，并在美洲、欧洲和亚洲设有直销和服务业务。Micromeritics 的产品是全球具有创新力的企业、政府和学术机构旗下 10,000 多个实验室的优选仪器。我们拥有专业的科学家队伍和响应迅速的支持团队，他们能够将 Micromeritics 技术应用于各种要求严苛的应用中，助力客户取得成功。
详细信息
| SediGraph®Ⅲ Plus 全自动X光沉降粒度分析仪 |
SediGraph全自动Χ光沉降粒度分析仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。
• 仪器与配件报价 • 产品培训
久经考验的技术和可靠性
在过去的三十多年中，麦克仪器公司的SediGraph是*许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其可靠性得出测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1~300μm。
产品应用
软件和数据报告
应用笔记、文献和参考目
ASTM 方法
智能设计特色
SediGraph III Plus 粒度分析仪设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性的结果。
• 简化泵系统，确保快速分析和易于维护
• 降低噪声，提供更加安静的工作环境
• 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护
• 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性
• Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作
• 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）
全自动Χ光沉降粒度分析仪多项功能
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