产品信息：

本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用于的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内水平。

应用领域：

环保ROHS检测，卤素分析，玩具八大重金属测试

贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；

用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析等。

功能：

经验系数法和基本参数法相结合

测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求

安全性能：迷宫式设计，*达到辐射安全指标

测试操作简单，实现傻瓜式操作模式

报告模板多样化，适应各种测试需求

器参数：

分析元素种类：26种元素可同时分析

分析方法：基本参数法（定量）

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：约48Kg

工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）

工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W

标准配置：

探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm²；Be窗厚度为1mil

压电源：压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05%

X射线管：薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）

清摄像头装置

定位装置

自动开盖装置