全自动比表面及孔结构分析仪静态容量法

比表面及孔结构分析仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱多项*技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱测试结果的准确性和*性进一步提高,金埃谱测试过程的稳定性更强,金埃谱达到同类产品良好水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模zui大,*通过ISO9001质量认证的生产企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

全自动静态容量法性能参数

测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布孔结构分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01（㎡/g）--至无上限（比表面积）,0.35nm-500nm（孔径）;

测量精度:重复性误差小于1.5%;

真空系统:V-Sorb*的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布孔隙率测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,*消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr（0-133Kpa）,0-10Torr（0-1.33Kpa）;

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）;

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

极限真空:4x10－2Pa（3x10－4Torr）;

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）;

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

全自动静态容量法特点

A.真空系统

1）*的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;

2）模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;

3）采用德国进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能,极限真空度高,可达4x10－2Pa（3x10－4Torr）;

B.控制系统

1）采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;

2）*设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染;

C.提高测试精度措施

1）采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度（FS）传感器;

2）与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计（一般误差为10%-15％）;

3）*的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

4）*的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,*消除因死体积变化引入的测量误差;

5）*设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移;

D.数据采集及处理

1）采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2）多种理论计算模型数据分析,为用户提供*的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.