美国Anasys仪器公司的AFM+可以提供完整的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不再仅仅是一个成像工具。主要优势方面:

完整的AFM工作模式

l  包含所有常规成像模式

l  高分辨率低噪音的闭环成像

安装与操作便捷

l  AFM+只为zui便利的使用而设计制造。预装的悬臂能够快速简便的完成对齐。

l  可自动运行的试样平台和高质量的棱镜使得对特定区域的快速定位分析成为可能

l  仪器设计集几十年的AFM技术成就，即使新手使用也能快速获取结果。

由美国Anasys仪器公司科研团队所开发的强大的纳米级定位分析技术

l  热学性能：具有保护的ThermaLever探针能够提供纳米热分析

l  机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析

l  化学性能：能升级增加了纳米红外光谱，可实现局部化学组分分析

AFM+  热分析

纳米热分析（nano-TA）模式

基于我们所*的热探针技术，AFM+可以使你获得样品任何特征区域的转变温度（熔点或玻璃转化温度）或者转变温度的扫描图。

上图为调色剂颗粒的nano-TA数据及其AFM图像。将颗粒内嵌在环氧树脂中然后进行超薄切片便可得到试样。试样的形貌图显示了其结构上的多样性，而这些可以用nano-TA进行分析。这是因为调色剂颗粒包含了大量存在不同的转变温度的组分（石蜡，树脂，染料等等）。

扫描热显微镜（SThM）模式

AFM+的这一模式允许用户将试样的导热系数和温度梯度成比例的进行成像分析。

上图所示的是利用AFM+系统的扫描热显微镜功能所绘制的碳纤维增强环氧树脂复合材料的图像，其中表征区域大小为4μm×8μm。测试前，需要对试样进行切削打磨以形成一个光滑的平面。高度影像（左侧）显示了若干根碳纤维，而SThM图像（右侧）则显示了在两个材料上探针温度的变化。这是由两种材料不同的导热系数所产生的。这个例子充分展示了SThM技术的高横向分辨率。

转变温度显微镜模式

转变温度显微镜（TTM）是一个全自动化模式。它能够快速的完成一系列nanoTA测试，并自动分析温度变化曲线获得试样的转变温度。

上图是具有纹理结构的左旋聚乳酸球粒（PLLA）的光学图像和TTM图像。TTM图像由XY移动载物台绘制而成。TTM图像中的蓝色区域代表PLLA的无定形区，而红色和黄色则是结晶区。在结晶过程中反复改变温度会导致结晶度的高低变化，zui终形成了洋葱状结构的球粒。该样品是由东京技术研究所的J. Morikawa提供。

可升级的扩展分析能力

AFM+IR 光谱

l  点击式的纳米红外光谱

l  与FTIR谱库相对应的红外光谱

l  化学成像

上图为链霉菌的形貌图以及在1650cm^-1和1740cm^-1处的红外扫描图。在生长后期，这些细菌形成了充满脂质的囊泡。因此，通过分析1740cm^-1处的脂类特征吸收峰，研究人员可以确定这些囊泡的位置。nanoIR的分辨率能够达到100nm以下。

AFM+  机械性能分析

采用接触共振法，AFM+能够检测到材料的硬度变化及其表面形貌，从而反映试样的机械性能。

上图为三元共混聚合物的形貌图和硬度扫描图。通过分析悬臂的接触共振能够检测到模量的变化从而绘制出硬度扫描图。从硬度扫描图中能够清楚的区分开三种材料。

多功能纳米检测工具

新一代AFM+可以全面升级到nanoIR系统——一款基于探针且可利用红外光谱在纳米尺度下表征试样化学组成的检测工具。nanoIR也可对特定区域的形貌，机械性能和热性能进行高分辨率表征。nanoIR的潜在应用领域横跨聚合物科学，材料科学和生命科学以及对结构和性能相关性的深入研究等方面。

上图为nanoIR系统的多功能检测示例。试样是由聚乙烯和聚丙烯构成的多层结构薄膜。根据它们特定的吸收谱带，nanoIR系统能够清楚的区分开这两种材料。此外，nanoIR也能够检测出两种材料不同的硬度和转变温度。