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CMI900系列 X射线涂镀层厚度测量仪

型号
CMI900系列
牛津仪器(上海)有限公司

高级会员3年 

生产厂家

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X射线荧光光谱仪;直读光谱仪;涂镀层测厚仪;显微分析;刻蚀,沉积和生长;低温恒温器与超导磁体系统;台式磁共振(NMR)分析仪和低场磁共振成像(MRI);X光管和相关产品;低温泵系统

   牛津仪器公司1959年创建于英国牛津,现在已成为世界上较大的科学和医学仪器领域的跨国集团公司之一,拥有分布于英国和美国的十几个工厂,在拥有四十多个分公司或办事处,业务遍及一百多个国家和地区。   
牛津仪器公司始终关注和支持着中国的发展,其产品于25年前就进入了中国市场,与中国的科研、教育、工业和医疗界有了许多成功的合作经验。现在,牛津仪器在北京和上海两地设有办事处和售后服务支持中心。牛津仪器的用户已遍及全国二十多个省、市和自治区,产品和服务受到了广大用户的好评。    
   具体产品信息请参见牛津仪器公司中文网站: http://www.oichina.cn

详细信息

CMI 900/950型 X-射线膜厚测量仪    

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点zui小可达0.025 x 0.051毫米。

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