Leica DM2700 M - New Materials Microscope with LED Illumination

徕卡DM2700M理想的例行检查任务，金相，地球科学，取证调查，材料质量控制和研究各种显微镜。
新材料显微镜徕卡DM2700M来自徕卡显微系统是理想的显微镜，各种例行检查任务，金相，地球科学，取证调查，材料质量控制和研究。它为用户提供了*设备，的通用白光LED照明用高品质的徕卡光学镜头。
超高亮度，高功率LED照明，为用户提供一个恒定色温4500K明场，暗场，干涉相衬和偏光。此外，内置的斜照明技术，用户可以体验到更好的表面检查细节。真彩色成像，可以得到所有的亮度强度水平和更低的拥有成本实现长寿命，低功耗的LED照明技术。
直立材料显微镜通用LED照明
该材料显微镜结合了高品质的徕卡光学与国家的的通用白光LED照明。它是理想的检测工具，用于各种例行检查任务，金相，地球科学，取证调查，材料质量控制和研究。徕卡DM2700 M显示你如何简单而可靠的显微镜可以同时帮助改善工作流程。

 

徕卡DM2700 M金相显微镜  的详细介绍:

 结构简单，使用可靠：徕卡DM2700 M金相显微镜
以的光照强度观察材料组织
在的光照强度下观察材料组织。通用白光（4500K）LED照明装置与*的高品质徕卡光学装置*匹配，打造出理想的质量评估和检测工具。徕卡DM2700 M金相显微镜代表了简单可靠的显微镜设计，改善您的工作流程，把精力集中在工作上。

>成像
>使用可靠
>操作灵活
>记录方便

LED照明，一键触发*照明
适用各类工业用途的通用显微镜照明装置
>白光，色温恒定
>真彩色成像
>*无需调整
>使用寿命长达20年

LED照明-*光源
高亮度，大功率LED照明装置
4500K恒定色温
所有亮度水平下都能够实现真彩色成像
更长的使用寿命（35000小时），按8小时/天计算，相当于使用寿命为20年
自由调节
*维护时间（更换灯泡）
适用于明场、暗场、微分干涉、偏光和斜射照明
不产生热量
光照强度高于100瓦卤素灯

值得信赖的成像
*光学部件
光学性能决定显微镜的质量性能。当今的数字时代依然如此。徕卡显微系统品牌始终代表着光学性能的zui高标准。徕卡显微镜的物镜不仅具有创新性，且具有较高的成本效益，它始终提供高对比度和锐化的图像，这毫不逊色于通过目镜和数码镜头所捕捉的图像。徕卡显微镜能够将具有鲜明对比度和锐化的图像与高分辨率视场和优化图像视场结合起来。无论工作需求是多么的苛刻，徕卡显微系统总能提供经济的解决方案。

值得信赖使用可靠
我们专注于显微镜操作
我们在Leica DM2700 M显微镜的设计中融入了便于理解操作的功能设计。使您能够专注于自己的工作，而不是把精力耗费在设备调整上。

优势
徕卡彩色编码物镜与孔径光圈的*结合成就了彩色编码光圈辅助装置（CCDA）。使用彩色编码光圈辅助装置后，显微镜分辨率、对比度以及景深的基本设置工作变得简单便捷。适用于临风间焦距粗调、微调以及超精细调整的嵌入式调焦止动装置、高度可调节对焦旋钮以及三齿轮式对焦机构使Leica DM2700 M显微镜的操作更为可靠持久，同时也使其更加便于日常使用。在zui大程度降低操作失误的同时还能够显著加快你的工作进度。*的简单手动调节显微镜，设备操作过程中，绝不会出现任何性能和功能打折扣的情况。Leica DM2700 M显微镜可靠、持久以及高品质的人机工程学设计使其操作更为简单并能够大大提高用户的操作舒适程度。

灵活性意味着节省成本
适用于所样本的多功能产品
Leica DM2700 M为适用于明场、暗场、微分干涉、偏光以及荧光用途的多功能立式显微系统。除了所有入射光用途之外，Leica DM2700 M同时还适用于所有配置透射光的用途。

物镜转盘
具有三个可选的物镜转盘BF/DF M32显微镜镜鼻可装配多达五个物镜，而BF/FLUO则可配置多达六个或者七个物镜。
每个场合，灵活适合
可选用于尺寸至100*100毫米的样本-例如金属薄片，半导体薄片或者印刷电路板，zui大厚度可达80毫米，例如机械加工部件，可利用综合测试程序进行监测。
始终保持对样本的观察
Macro宏观物镜能够使你一眼即可看到40毫米的样本。也成为你进行快速定位和综述文档的理想工具。

简化文件记录过程
图像记录、保存和检索
适用于反射光用途的徕卡数码摄像机与徕卡应用套件中的图像采集和归档软件功能的结合，能够确保检测结果方便有效地保存。
能够实现材料数据快速精准地分析
Leica Steel Expert,Phase & grain Expert,以及Cleanliness Expert均为能够提供高品质解决方案的专业软件包，这些软件包尤其是适用于要求样本处理以及自动运行操作的环境。由于采用了模块化结构，其功能涵盖从简单、互动到自动摄影测量；例如标明金属表面特征或者进行离子分析。