HCCR-3000 差热分析仪加载装置-化工仪器网-手机站

北京华测试验仪器有限公司( 简称: 华测仪器) 为高新技术企业，专注于绝缘材料与先进功能新材料电性能检测以及材料电学测控设备的研发、生产、销售和服务，目前公司产品已应用于全国二十多个省、市、自治区。
公司有功能材料、电气绝缘材料两个电学试验室；涉及材料测试仪器、器件的放大、调理、采集、控制；传感器性能综合评价等相关仪器。

产品系列：先进功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。

详细信息

差热分析仪

型号（HCCR-3000）

差热分析仪加载装置相关简介：

华测差热分析（DTA）是在程序控制温度下，测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度，从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线（DTA）是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差（△T），向上表示放热反应，向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化，它在差上发映出基线的偏离。

技术指标

1. 温度范围: 室温~1000℃

2. 量程范围: 0～±2000μV

3. DTA精度: ±0.1μV

4. 升温速率: 1～80℃/min

5. 温度分辨率: 0.1℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8. 温度控制: 升温：程序控制可根据需要进行参数的调整

降温：风冷程序控制可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等

恒温：程序控制恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作

10. 气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置

11. 数据接口: RS-232串口通讯配套数据线和操作软件

12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示蓝底白字

13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正

14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15. 工作电源: AC 220V 50Hz

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