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起订量：
微小孔及小间隙内壁粗糙度仪
- 型号
总体变形 抗书写及抗切削性
弹性和可塑性 触觉性及柔软度
材料致密性 抗摩擦抗刮性
微硬度及组织结构 微摩擦系数
涂层厚度及结构 松弛及衰减性
公司致力于表面检测仪器的代理和销售, 主要包括非接触式, 接触式表面光学, 微机械性检测研发仪器,及特殊的表面摩擦试验机. 其中包括ABREX符合IEC68-2-70标准, 经被诺基亚NOKIA, 西门子SIEMENZ, 富士康FOXCONN, 比亚迪BYD,博世BOSCH等*大公司所采用. UST已经被BMW, 克莱斯勒等大公司用与研发使用. 另外,还有大量的用于各种材料表面非接触测量, 轮廓粗糙度的检测仪器.
详细信息
微小孔及小间隙内壁粗糙度仪
为了实时对准被测孔，本仪器配备了3个自动旋转轴及3个自动转换轴。
由微量钨和碳纤维组成的传感器，能实现内部形貌的精密测量。这归功于本公司在框架结构下开发的LVDT技术。
| 技术规格 | |
| X，Y，Z 轴范围 （mm） | Up to 200 x 200 x 200 （motorized） |
| 解析度 （μm） | 0.5 （0.1 in option） |
| 形貌的直线度 | Up to 0.6 μm x 200 mm |
| 尺寸 | L900 x W710 x H1980 |
| 重量 （kg） | 650 |
| PheNIX技术 | 由ALTIMET公司开发，同时满足工厂及实验室使用 |
| zui大检测速度 | 250 μm / s |
| 探针 | AltiProbe NEEDLE |
| 原理 | 特殊设计的感应传感器 |
| 范围 | 150 μm to 1.5 mm |
| 垂直解析度 | 2 to 60 nm |
| 侧面解析度 | 2 μm stylus radius – diameter of 35 μm |
| 频率 | up to 30 KHz |
| 探针 | AltiProbe CLA |
| 原理 | 白光CLA （Chromatic Light Aberration） |
| 范围 | Modular confocal optical probeof 300 μm |
| 垂直解析度 | 6 to 600 nm （accuracy: 20 nm to 3 μm） |
| 侧面解析度 | up to 1.1 μm |
| 探针 | AltiProbe Inductive |
| 原理 | 标准电感传感器或特定的触针 |
| 范围 | 150 μm to 1.5 mm |
| 垂直解析度 | 2 to 60 nm |
| 侧面解析度 | 2 μm stylus radius 60°or 90° or customized |
| 配备 | |
| 分析软件 | Altimap suite: Lab to line interface （control card）. Self macro analysis |
| CCD Camera | 测量区域的观察和选择 Zoom up to x1200 |
