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gdat-a 介电常数介质损耗测试仪 介电常数测试仪
- 型号
- gdat-a
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北京北广精仪仪器设备有限公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的企业，主要产品有：电压击穿试验仪、体积电阻率表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、海绵泡沫落球回弹试验仪等。
“精细其表，*于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其*设计风格，卓悦的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供高品质的产品和优质的服务。北广精仪公司集软件设计、机械、汽压、电子、电机以及研发、品保、生管、检测等专业人才，获取即时资讯，发展*产品与服务。产品符合：ISO、AATCC、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、TAPPI、IEC、VDE等标准，广泛适用于：科研单位、质检机构、大专院校以及 绝缘材料、橡胶塑料、海绵泡沫材料、橡胶、塑料、制鞋、皮革、包装、航空等产业，为材料开发、物性试验、教学研究、品质管理等提供晶准的数据。
现公司总资产达数千万元。拥有现代化设计开发技术和*生产设备。应用于多种高性能检测设备及非标自动化设备的生产和研制，其中本公司产品：绝缘材料检测仪器，海绵泡沫检测仪器，家具检测设备等质已优于guo际cian进水平，并成功申请中国国家。
无需和任何大学合作 *有自主研发的能力并多次参加世界仪器展览会与讨论会聚结精华注于研发北广精仪仪器设备有限公司，同时在香港、上海、广东、福建、重庆、北京、长沙等地为客户提供实验室整体解决方案，包括实验室的设计规划、仪器选型、安装、培训、保养、校正、对比测试、管理体系、认证等一站式技术服务。
北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。
与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的知识和强劲的科研实践，在消化、吸收国ji先jin生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。
经营理念：
一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。
二、晶准检测 保质保量 晶准检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺
三、技术* 创新理念 储备开发人才，引进shijiexianjing技术，采用*设计理念，打造Z精良的检测仪器。
北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求
北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓悦，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！
详细信息
介电常数介质损耗试验仪：GDAT-A
满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
二、技术指标
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
项 目 GDAT-A
频率范围 20kHz～10MHz；
固有误差 ≤5％±满度值的2％；
工作误差 ≤7％±满度值的2％；
频率范围 10MHz～60MHz；
固有误差 ≤6％±满度值的2％；
工作误差 ≤8％±满度值的2％。
2．电感测量范围：14.5nH~8.14H
3．介电常数介质损耗试验仪电容测量：1~ 460
项 目 GDAT-A
直接测量范围 1～460pF
主电容调节范围
准确度 30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％
注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4．介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项 目 GDAT-A
频率范围：10kHz～50MHz
频率分段（虚拟）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz
本仪器测试仪方法如下：
仪器的测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求）， 如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。
4．介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
Σ＝D2 / D4
5．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数公式如下：
?
式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）C0 为测试电感的分布电容 （参考LKI-1 电感组的分布电容值）
