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染料敏化电池IPCE测试专用方案
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生产厂家北京卓立汉光仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高*技术企业。卓立汉光自1999年起,通过数年的不断努力,成长为光电仪器厂商之一。目前公司的电控位移台、手动位移台、光学调整架等产品已经形成产品系列化,规格多元化,国内多家科研单位、激光加工设备厂商、光纤设备厂商在使用我们的产品。2000年推出我司套量产型三光栅光谱仪后,不断推出了多套荧光、拉曼、光电探测器光谱响应、太阳能电池检测等光谱测量系统,广泛应用在众多高校和科研院所的研究与试验,为国家科技创新贡献了一份力量,产品凭借优良的品质远销欧美、东南亚等海外市场。 2005年10月在同行业中通过ISO9001质量管理体系SGS认证。2010年取得国家高*技术企业认定,2016年卓立汉光技术中心顺利通过市级技术中心评审。
卓立汉光主要生产经营:荧光/拉曼光谱系统、各类光谱测量系统、太阳能电池检测仪器、光栅光谱仪、各类型光源及探测器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件等系列产品。
我们诚心聆听用户的需要与批评,作为不断改进的动力,能让您满意卓立汉光的产品及服务,就是我们的成就。因此我们以卓立汉光的光机产品提供 “终身保固”的承诺,来表达我们对产品的信心。
我们坚持从设计、零件选型、制造、装配、检验、包装、运输、直到售后服务做好*质量保证,就是要让您 “付有所值”,以合理的价位得到优质的产品,这是我们对您选择卓立汉光真诚的回报。
卓立汉光始终以满足用户需求为宗旨,分别于上海、深圳、成都、西安设立分公司,为用户提供及时周到的销售与技术服务。“研发创新、快速反应、优质服务” 是我们的经营理念, 公司长期重视优质高效、短时间为客户开发产品及提供技术支持。卓立汉光真诚地希望与国内外同仁携手合作,为推动我国光电产业迅猛发展做出贡献。
SCS10-DSSC染料敏化电池IPCE测试专用方案
■ 适用电池:染料敏化太阳能电池 ■ 光谱范围:300~1100nm ■ 可测参数:光谱响应度,量子效率,短路电流密度 ■ 可测样品面积:100mm×100mm ■ 测试手段:直流测试法,直流偏光测试法 |
注:绿色曲线测试条件为AC(3.8Hz)+0.1Sun偏置光
蓝色曲线测试条件为DC不加偏置光
红色曲线测试条件为DC+0.1Sun偏置光
SCS10-X150-DSSC 方案规格
项目 | 规格 |
测试光斑尺寸 | 2-10mm |
波长范围 | 300-1100nm |
波长准确性 | ±0.2nm(@1200g/mm) |
扫描间隔 | 小可达0.1nm,推荐使用5nm间隔 |
多级光谱滤除装置 | 电动控制,根据波长自动切换 |
标准探测器 | 标准硅探测器,含响应度标定证书 |
数据采集器灵敏度 | 100nA |
样品夹持 | 适用于“三明治”结构染敏电池夹持 |
仪器所需平台尺寸 | ≥1200mm×800mm均可 |
计算机及软件 | 系统含计算机,键盘,鼠标,正版windows7操作系统以及系统软件安装光盘 |
特点
测试手段多样化
测 试方案可以是直流测试法,也可以是直流偏光测试法,方便用户用不同方式不同条件进行测试。直流偏光测试法中的偏光可以采用75W 的溴钨灯作为偏置光源,滤光片架分为两部分,一部分为了方便客户测试多结电池及调整偏置光的波段,可以在此处放置不同波长的滤光片,另一部分中有两个滤光 片轮,每个滤光片轮有 6 个孔位,通过调整每个滤光片轮的孔位来设定偏置光光强。
■ 靠近偏置光出口的滤光片轮滤光片型号: 1—NDFI2501 透过率 79% ( 光密度OD 值为0.1) 2—NDFI2503 透过率 50% ( 光密度OD 值为0.3) 3—NDFI2504 透过率 39.8%( 光密度OD 值为0.4) 4—NDFI2508 透过率 15.8%( 光密度OD 值为0.8) 5—NDFI2510 透过率 10% ( 光密度OD 值为1) 6 空挡及透过率100%( 光密度OD 值为0) ■ 靠近外光路的滤光片轮滤光片型号: 1—NDFI2501 透过率 79%( 光密度OD 值为0.1) 2—NDFI2503 透过率 50%( 光密度OD 值为0.3) 3—NDFI2504 透过率 39.8%( 光密度OD 值为0.4) 4—NDFI2508 透过率 15.8%( 光密度OD 值为0.8) 5—NDFI2520 透过率 1%( 光密度OD 值为2) 6 空挡及透过率100%( 光密度OD 值为0) |
垂直全反射光路
垂直光路使样品可以水平放置,全发射光路可以消除色差所带来的影响。垂直全反射光谱配合三维手动位移台可以调整前后左右距离以保证光斑和被测物位置吻合。 |
专用软件,专用测试流程
测试方案所用软件是为测量染敏电池专门设置参数的软件,并且可以设置当您已经测试完一遍且测试条件没有发生变化的条件下直接测试样品,增加测试速度。