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信测 OTDR 光时域反射仪A
- 型号
- 信测 OTDR
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公司主要销售的仪器有：超声波探伤仪、红外热像仪、接地电阻测试仪、数字示波器、静电测试仪、电子负载、电源、电能质量分析仪、功率分析仪、光源、光功率计、兆欧表、钳形表、红外测温仪、超声波测厚仪、照度计、声级计、测振仪、转速表、频闪仪、漏点仪、测温仪、烟气分析仪,气体检测仪、风速仪、温湿度仪、粗糙度仪、硬度计、照度计,推拉力计、扭力计、波形记录仪、信号源等测试仪器。尤其是超声波探伤仪、红外热像仪、推拉力计、数字示波器、静电测试仪、硬度计等电子测试仪器和无损检测仪器在行业的应用上我公司有丰富的经验！
公司注重“以人为本、团结合作、追求*、”的企业文化秉承质量*、诚信*、用户至上、价格合理”的宗旨，建立一切以客户的需求为工作目标的经营理念。
我们真诚欢迎国内外新老客户前来洽谈业务，交流技术，增进友谊，竭诚为您服! ! !...
详细信息
OTDR光时域反射仪AOR500-A
--------功能强大 便于携带 质量、可靠性和经济性的组合
手持式OTDR可满足所有中短距离光纤OTDR测试需求，其拥有的事件盲区和动态范围，有三种种型号可供选择，能够更好地满足您的特定OTDR 测试需求。与可视故障定位的结合，可以保障光纤全程的故障检测
OTDR光时域反射仪AOR500应用
Ø 接入网光缆开通与维护
Ø 局域网开通与维护
Ø MDRTX开通与维护
Ø 有线电视网络开通与维护
Ø 光网络的开通与维护
■ 精准、快捷、易用- 功能强大的适合现场应用的光时域反射仪
快速测试：
开机: 独立开发的OTDR能实现即开即测，无需等待
测量：智能一键操作
事件表：智能分析软件按照用户要求罗列光缆故障点，*与事件表联动，方便用户迅速定位故障
*操作: 快捷键方便用户快速移动*、迹线缩放，聚焦用户关注点
智能迹线分析
AOR系列OTDR内嵌智能迹线分析模块能够快速准确分析出测试曲线中的事件点、故障点及其位置信息，并以事件表的形式显示，用户无需了解繁琐的专业知识即可对待测光缆状况一目了然，尤其适合线路维护人员。如果用户对事件表不满意，可以重新设置分析参数，对已测迹线进行再次分析。
在线光信号检测功能
待测光纤中含有通信光信号，不仅影响OTDR的测试结果，而且对仪器内部的APD造成不可恢复的损坏。OTDR能够自动检测到待测光纤是否含有通信光信号。当仪器本身检测的测试光纤中带有通信光信号会自动提示，并为仪器提供快及时的保护。
友好的用户界面
AOR系列 OTDR用户界面简洁明快：大窗口迹线显示、事件表详细明确、测试参数一目了然，配按键设计，对迹线进行快速缩、放浏览。
按键设计
ADR系列 OTDR按键设计，无需特殊说明培训，可以使用户快速方便的操作。
■ 便利的VLS功能
借助AOR系列的可视红光故障（VLS）功能可以非常方便、快捷地发现短距离光纤链路中断点或大的损耗点位置，以便维护人员及时采取措施，节省时间。
OTDROR500技术指标：
型号 | AOR500 | ||
中心波长（±20nm） | 1310/1550nm | ||
动态范围(dB) ③ | 32/30 | ||
脉冲宽度 | 10ns、20ns、50ns、100ns、 200ns、500ns、1000ns、2500ns | ||
事件盲区（m）④ | 1.5 | ||
衰减盲区（m）⑤ | 5 | ||
距离范围（Km） | 2KM、5KM、10KM、15KM、30KM、60KM、90KM | ||
测量时间 | 5秒、15秒、30秒、1分钟、2分钟、3分钟 | ||
距离不确定度⑥ | ±（1 + 0.005 % x 距离 + 采样分辨率） | ||
损耗测量准确度 | ±0.05dB/ dB | ||
回损测量准确度 | ±2dB | ||
OTDR其它参数 |
| 可视光源* | |
内存容量 | zui大9999条曲线 | 波长 | 650nm±20 |
光纤类型 | 单模光纤 | 输出功率 | <1dBm |
显示 | 3.5彩色液晶 | 标配接头 | FC/UPC |
标配光接口 | FC/SC可选（ST） |
|
|
其它 |
| ||
电池 | 智能充电锂电电池 | ||
连续工作时间* | >10小时（根据Bellcore TR-NWT-001138） | ||
尺寸（长×宽×高） | 198mm×108mm×68mm | ||
重量 | 0.9Kg | ||
备注：
①除非另行指明，所有规格对于23 °C ± 2 °C (73.4 °F ± 3.6 °F) 温度范围、带FC/PC 连接器均有效。
②常规配置
③SNR = 1 时zui长脉冲和三分钟平均值的典型动态范围。
④使用10ns脉冲，单模反射率低于–45 dB 的典型盲区。
⑤使用30ns脉冲，单模反射率低于–45 dB 的典型盲区。
⑥不包括由于光纤折射率引起的不确定度。
