起订量：
Redux / nGauge 便携式芯片原子力显微镜
我们是谁
美国Quantum Design公司是科学仪器制造商，其研发生产的系列磁学测量系统及综合物性测量系统已成为业内进的测量平台，广泛分布于全球材料、物理、化学、纳米等研究域的科研实验室。Quantum量子科学仪器贸易（北京）有限公司(暨Quantum Design中国子公司) 成立于2004年，是美国Quantum Design公司设立的诸多子公司之，在全权负责美国Quantum Design公司本部产品在中国的销售及售后技术支持的同时，还致力于和范围内物理、化学、生物域的科学仪器制造商进行密切合作，帮助中国市场引进更多全球范围内的质设备和技术，助力中国科学家的项目研究和发展。
我们的理念
Quantum Design中国的长期目标是成为中国与进行进技术、进仪器交流的重要桥头堡。助力中国科技发展的十几年中，Quantum Design中国时刻保持着积进取、不忘初心、精益求精的态度，为中国科学家提供更质的科学和技术支持。随着中国科学在舞台变得愈加举足轻重，Quantum Design中国将继续秉承“For Scientist, By Scientist”的理念，助力中国科技蓬勃发展，助力中国科技在腾飞！
我们的团队
Quantum Design中国拥有支具备强大技术背景、职业化工作作风的团队，并致力于培养并引进更多博士业技术人才。目前公司业务团队高学历业硕博人才已占比超过70%以上，高水平人才的不断加入和日益密切的团队配合帮助QD中国实现连续几年销售业绩的持续增长
我们的服务
Quantum Design中国拥有完善的本地化售前、售中和售后服务体系。国内本地设有价值超过50万美元的备件库，用于加速售后服务响应速度；同时设有超过300万美元的样机实验室，支持客户对设备进行进步体验和深度了解。 “不仅提供超的产品，还提供超的售后服务”这将是Quantum Design中国区别于其他科研仪器供应商的重要征，也正成为越来越多科学工作者选择Quantum Design中国的重要原因。
便携式原子力显微镜
——AFM纳米形貌表征从未如此简单！
ICSPI公司在便携式nGauge原子力显微镜（AFM）的基础上进行了全新升级，推出了新一代的便携式原子力显微镜Redux。Redux原子力显微镜（AFM）除了具有方便携带，操作简单，扫描速度快，可扫描大尺寸样品，无需维护等优点，还可以迅速找到感兴趣的测量位置，实现相关区域的快速高精度测量。适合各类纳米表征应用场景，从科学研究、高等教育到工业用户的样品3D表面形貌快速成像分析等，革命性的创新技术的降低了传统AFM的复杂操作，也的拓宽了传统AFM的应用范围！
适合各类纳米表征应用场景
半导体工业
材料工业
纳米技术
生命科技
涂料，聚合物和复合材料等
高等教育
......
产品特点
更小巧，更便携
AFM微纳机电芯片，使得Redux/nGauge原子力显微镜（AFM）系统仅有公文包大小，可随身携带。
更简单，更易用
只需点击鼠标三次即可获得样品表面纳米级形貌信息，无需配置减震平台。
第一步：通过内置光学显微镜寻找扫描区域；
第二步：Redux/nGauge帮助扫描探针自动寻找样品表面；
第三步：点击扫描，获取样品表面形貌信息。
维护简单，性价比高
类金刚石针尖保证AFM探针超长寿命，且无需繁琐的更换针尖操作和其他后期维护工作。
Redux采用的压电AFM探针技术以及耐用的探针针尖（左图）。中图为一根探针第215次扫描样品的结果，右图为第1164次扫描样品的结果
设备参数：
Redux AFM
左：Redux原子力显微镜（AFM）；右：Redux原子力显微镜实际使用场景
Redux微型原子力显微镜n5（噪声基底优于0.5nm）
Redux微型原子力显微镜n7（噪声基底优于0.15nm）
产品特点
快速：1分钟内便可获取样品信息
易用：扫描只需点击三次鼠标
简单：全新升级的X, Y和Z定位系统
技术参数
| AFM技术参数 | |
| 最大扫描范围(XY) | 20 μm x 20 μm |
| 最大扫描高度(Z) | 10 μm |
| 扫描速度 | 80 秒 (256 x 256 pixel, 20 μm x 20 μm) |
| 噪音基底 | <0.5nm 或 <0.15 nm |
| XY扫描分辨率 | <0.5 nm |
| 样品台参数 | |
| 样品台尺寸 | 105 mm x 95 mm x 20 mm |
| 可移动范围 | 10 mm x 10 mm |
| 光学显微镜参数 | |
| 物镜 | 10x, 0.25 NA |
| 视场 | 2.25 mm × 1.25 mm |
| 分辨率 | 1920 x 1080 FHD Video output |
| 整体尺寸 | |
| 尺寸 (长x 宽 x 高) | 23.2 cm × 22.0 cm × 24.6 cm |
| 重量 | 4 kg |
| 软件需求 | |
| 连接方式 | USB |
| 操作系统 | Windows 10, 11 |
| 电源 | |
| 电压 | 100-240 VAC ~ 50/60 Hz |
| 电流 | 12 VDC, 5 A |
nGauge AFM
成像类型：形貌图，相位图
XY 扫描区域：100 µm × 100 µm
XY 扫描分辨率：<0.5 nm
Z向扫描范围：10 µm
快速扫描成像时间：16 秒
可表征样品大尺寸：100 mm x 50 mm x 20 mm
可表征样品大重量：1 kg
各表征手段对比
Redux/nGauge AFM | 传统 AFM | SEM | |
大气环境下运行 |
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自动寻找样品表面 |
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| N/A |
设备安装时间 | 5 分钟 | 1-2 周 | 1-2 周 |
扫描样品时间 | 2 分钟 | 1 小时 | 30 分钟 – 1 小时 |
随测随走 |
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培训时间 | 1 小时 | 12+ 小时 | 12+ 小时 |
无需激光对准 |
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普通市电/USB供电 |
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更换探针难度 |
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| N/A |
3D表面形貌成像 |
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成像分辨率 |
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不导电样品表征 |
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测试数据
微柱阵列三维成像
二氧化硅聚合物复合材料相扫描结果
半间距为200nm的光栅形貌表征
数据存储单元纳米结构三维形貌表征
丹麦Akasel公司检测钢铁抛光样品表面
美国Biotech公司表征皮肤样本
美国Applied Nanotool公司微纳光学器件品控
光电子域器件检测
发表文章
1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.
2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.
3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.
4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.
用户单位
nGauge全球代表性用户
