KDKLT-1 高频光电导少子寿命测试仪（学校用）型号：KDKLT-1 中慧-化工仪器网-手机站

首页>半导体行业专用仪器>其它半导体行业仪器设备>少子寿命测试仪

参考价：

起订量：

面议

KDKLT-1 高频光电导少子寿命测试仪（学校用）型号：KDKLT-1 中慧

具体成交价以合同协议为准 2024-11-15 北京市

型号: KDKLT-1

北京中慧天诚科技有限公司

中级会员第11年

进入商铺全部产品

该企业相似产品

数字缘电阻检测仪

在线询价

直流单双臂电桥（电池型）型号：DZQJ47 中慧

在线询价

单片矽钢片测试仪/硅钢片铁损仪/铁损仪（磁感+损耗）型号：TYU-2002M1 中慧

在线询价

追踪仪型号：BT-U305A 中慧

在线询价

中空玻璃密封性能自动试验机型号：ZKUI-B 中慧

在线询价

镀膜玻璃磨耗仪型号：ZKRM-A 中慧

在线询价

硅钢片铁损测量仪/铁损仪型号：JZXS-200M 中慧

在线询价

硅钢片铁损测量仪/铁损仪型号：JZXS-100M 中慧

在线询价

主营产品公司介绍

静摩擦系数测试仪，浮游生物培养器，数字测滑仪

中慧天诚是一家集仪器表供应，技术服务，售后为一体的仪器仪表供应商。

详细信息

高频光电导寿命测试仪/高频光电导少子寿命测试仪（学校用）
型号：KDKLT-1

货号：ZH8202

产品简介:
τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配数字示波器;用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质的重要检测项目。
设备组成
1.光脉冲发生装置:
重复频率>25次/s
脉宽>60μｓ
光脉冲关断时间＜1μｓ
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）
脉冲电流：5A～20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.高频源:
频率：30MHz低输出阻抗
输出功率>1W
放大器和检波器:
频率响应：2Hz～2MHz
3.配用示波器：
配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
测量范围：
可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）
寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）