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SICK传感器工作原理解析
公司主要做欧美进口工业设备和工业配件,专业从事进口工业自动化设备销售、技术咨询、技术服务、技术报价等十余年。主要液压、传感器、仪表、气动等。
公司主营液压、传感器、仪表、气动、工业 配件等。
公司部分代表品牌:EPRO;burkert宝德,Rexroth力士乐,HYDAC贺德克,GRAS,SENSIT ,Carlo Gavazzi佳乐 ;EGE;TREK;HAWE哈威 , NASON 纳森, VICKERS威格士, 派克PARKER ,ATOS阿托斯,TOPWORX, Camozzi 康茂胜, microsonic现货多, KUBLER库伯勒,杰弗伦GEFRAN,SUN, MAC,,SICK施克 ,ASCO阿斯卡, HBM ,BAUMER 堡盟宝盟,MOOG穆格,BANNER邦纳 ,GF;UE, SUN , NUMATICS纽曼蒂克,ROSS , COAX, HEIDENHAIN海德汉 ,JUMO 久茂,E+ H恩德斯豪斯, FESTO费斯托, NORGREN诺冠, IFM 易福门,P+ F倍加福, PILZ皮兹 ,ACE,Siemens西门子, EMP ,TWK,DESTACO迪斯泰克 , Fairchild仙童,NOVOTECHNIK , VEGA,,Hengstler亨士乐,THALES,豪斯派克Honsberg,TESCOM;MILTON ROY米顿罗;KNF凯恩孚;;KOBOLD科宝;SAMSON萨姆森;KYTOLA ;司倍克SPECK;安士能Euchner;WANDFLUH万福乐;AI-TEK阿泰克;AZBIL山武;FAG 马勒Mahle;SKF斯凯孚;SOR索尔;Barksdale 巴士德;MIDLAND-ACS;REDLION;Wenglor威格勒;ZIEHL-ABEGG施乐佰;SKYWISH ; Puls 普尔世;di-soric ;St?ubli;PULSOTRONIC;AirCom;STEGO;Binsack;KTB;Square D;Audio Precision;RANSBURG;Maxon;
,Audio Precision,RANSBURG,BRONKHORST,HAUG豪格, 罗斯蒙特Rosemount, ,phoenix菲尼克斯 ,lechler,deunlin,美国 Copeland(阀门),美国Northstar(探头),美国ynai(气缸),美国 Airtrol(开关)美国 Kemkraft(汽车方向盘),美国Autoflow(流量开关)德国沃特克 Votech滤芯,美国纽金特 Nugent滤芯,美国贺利克HLCO滤芯,德国Air-pot气缸。SCHUNK 气缸,夹爪 意大利 ELCIS 美国 WEBER 德国 WEIGEL 德国 FRIZLEN 德国 TIPPKEMPER MATRIX TWK,WEIGEL威格,ELCIS艾西斯,FRIZLEN佛瑞恩;AIRTAC亚德客;日本SMC,日本CKD喜开理,日本油研YUKEN,日本NACHI不二越,日本黑田精工,日本丰兴TOYOOKI,日本大金DAIKIN,太阳铁工TAIYO 等等几百个牌子;
SICK成立于1946年,总公司位于德国西南部的瓦尔德基尔希市(Waldkirch)。SICK已在建立了接近50个子公司和众多的销售机构, 雇员总数超过6,300人,2012年销售业绩达到 9.71亿欧元。产品广泛应用于各行各业,包括包装,食品饮料,机床,汽车,物流,交通,机场,钢铁,电子,纺织等行业。
我公司目前主要提供欧洲一线工控品牌。产品主要包括:传感器、继电器、编码器、各类开关、电源模块、变压器、光栅、电磁阀等。
品牌主要包括:宝德BURKERT,E+H,力士乐REXROTH,易福门IFM,P+F,
图尔克TURCK,皮尔兹PILZ,贺德克HYDAC,安士能EUCHNER,MOOG穆格,FESTO费斯托,HEIDENHAIN海德汉,等,另外提供欧洲各种产品代购。我们将以*的价格和热情为国内客户提供服务。
SICK传感器是采用光电元件作为检测元件的传感器。它首先把被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号。光电传感器一般由光源、光学通路和光电元件三部分组成。由光通量对光电元件的作用原理不同所制成的光学测控系统是多种多样的,按光电元件(光学测控系统)输出量性质可分二类,即模拟式光电传感器和脉冲(开关)式光电传感器.模拟式光电传感器是将被测量转换 光电传感器成连续变化的光电流,它与被测量间呈单值关系.模拟式光电传感器按被测量(检测目标物体)方法可分为透射(吸收)式,漫反射式,遮光式(光束阻档)三大类.所谓透射式是指被测物体放在光路中,恒光源发出的光能量穿过被测物,部份被吸收后,透射光投射到光电元件上;所谓漫反射式是指恒光源发出的光投射到被测物上,再从被测物体表面反射后投射到光电元件上;所谓遮光式是指当光源发出的光通量经被测物光遮其中一部份,使投射刭光电元件上的光通量改变,改变的程度与被测物体在光路位置有关。