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温度冲击ESS试验箱

型号
参数
产地类别:国产 应用领域:能源,电子,航天,汽车,电气
东莞市赛思检测设备有限公司

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生产厂家

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恒温恒湿试验箱,冷热冲击试验箱,快速温度变化试验箱,盐雾试验箱,淋雨试验箱,砂尘试验箱,紫外光耐气候试验箱

 

重庆工厂.jpg

   东莞市赛思检测设备有限公司是一家集环境与可靠性试验设备研发、制造、销售与服务于一体的高科技企业。赛思以承载人类科技发展、坚定不移地为仪器检测行业贡献力量为企业使命,致力于打造上等领域生态型企业。本公司产品具有智能化控制、节能环保,高可靠性、工艺先进、设计美观等特性。主要零部件采用欧、美、日名厂出品,为客户创造更大价值。

 

   赛思秉承个性化的服务理念,把更好的服务奉献给客户的企业宗旨,为客户提供符合ISO、GB、GJB、IEC、MIL、ASTM、VDE、NACE、JIS、BS等标准的各类环境检测设备。可根据用户需求设计、制造各类非标环境试验设备。现主要从事:(高低温试验箱、高低温湿热试验箱、冷热冲击试验箱、液槽冲击试验箱、应力筛选快速温变试验箱、温度湿度振动复合试验箱、高低温/湿热低气压试验箱、步入式高低温湿热试验室、阳光模拟试验箱、盐水喷雾试验箱、UV紫外线耐气候试验箱、淋雨试验箱系列、砂尘试验箱系列、插拔力试验机)各种信赖性非标定制设备研发生产销售。产品已广泛用于航空、航天、军工、汽车、船舶、电子、通信、光电、IT、机械、建材、石油、高校、生物工程等领域,并受到广大用户的一致肯定和好评。

 

   作为一家高科技企业,赛思拥有一个研发中心,在世界制造业名城东莞及中国检测设备行业重镇重庆都建有生产基地。其中重庆生产基地位于重庆两江新区科技产业园,建筑面积37000平米,专注于仪器设备和自动化装备的研发制造。

赛思市场网络在国内10家分公司及14家办事处,海外签约12家代理商,18家协议服务中心。


·企业精神:匠人、匠心、匠行、匠造


·服务理念:用心经营,诚信服务


·用人理念:人才适用


·品质理念:精控过程、持续改进、精益求精、上等可靠、环保节能!

详细信息

温度冲击ESS试验箱系统结构可分为高温槽预热区,低温槽预冷区两部分,通过控制移动式提篮试验样品放置区快速移动到低温槽或高温槽的方式达到快速冷热冲击试验,试验过程试验样品随同移动式提篮一起移动。热应力速变试验箱相比高低温两箱式冷热冲击试验箱具有更快的温度转换到达速度,应力速变时间小于10秒,为试验样品提供更严苛的测试。热应力速变试验箱适用于考核整机产品、元器件、零部件、材料等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验箱以在短时间内评估试验样品因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害,能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温值、试验样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备。

温度冲击ESS筛选箱特点:

1、行业*实现3~30℃/min、10~40℃/min温变速率;整机实现快速温变、三箱式温度冲击、两箱式温度冲击试验;2、现代化设计模组化制造技术控制能力;试验循环进行700H以上除霜一次;3、设计*观察视窗达到物测目视效果;4、采色屏32位控制系统以太网E化管理,USB数日方对你存取功能;5、可程式负载电源4路ON/OFF输出控制,保护待测品及设备安全;6、独立待测品防凝露功能和超温,无风、烟雾保护功能;7、可扩充APP移动平台化管理;8、可以扩展网络视频监控功能,与数据测试同步;9、环保的制冷流量控制,节能省电升降温速率快;10、*的运行模式设计,试验结束后箱体内回常温保护待测品状态;11、控制系统设备保养时间自动提醒及故障病历软件设计功能;设备可扩充远程服务功能,提供机台使用教学光碟。

温度冲击ESS试验箱技术参数:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28℃/min→

LED汽车照明灯

25℃/min→

PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

24℃/min→

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20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

11℃/min→

无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5℃/min→

 

锡须温度循环试验

 技术规格:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温度范围

-80.00℃~+200.00℃

低温冲击范围

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00℃

时间设定范围

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温度均匀度

<2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

温变范围

-55℃~+85℃//+125℃

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产品参数

产地类别 国产
应用领域 能源,电子,航天,汽车,电气
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