SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪 高灵敏度、高精度的测量 *表征单一体系纳米尺度粒子 *解析纳米粒子的物质结构 技术参数: ■ 粒子直径测定 ● 超宽动态光散射测量范围: 0.3nm~8000nm ● 通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化。 ● 在单一纳米粒子光学系统中,采用更低杂散光90°检测光学系统。 ● 双光路系统(90°和173°)适用于更宽浓度范围的样品测量,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。 ■ Zeta电位测定 ● 通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池,可以测定仅100μL的样品。 ■ 主要特点: ● 超小体积设计 ● 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。 ● 样品浓度从PPM到百分之几十,SZ-100都能在原液状态下取样和测定。 ● HORIBA自主研发的微量电泳样品池, 可以测定仅100μL的Zeta电位。 ● 广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。 ● 操作简单,进样、设定参数后,只要按开始按钮即可得到测量结果。 |