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KSV NIMA KSV NIMA 交替型LB膜分析仪
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瑞典百欧林科技有限公司是一家*科研仪器生产商,在北欧的瑞典,丹麦和芬兰都有主要产品的研发和生产基地。我们为用户提供高科技、高精度的科研设备,可用于表界面、材料科学、生物科学、药物开发与诊断等研究领域。
我们同时专注于用户的技术和应用支持,以及科技的发展与进步。我们的产品均基于*的测量技术,而这些技术,或为我们,或为我们*,或在*科研与发展中占主导地位。我们的核心战略是,通过寻找具有广阔商业前景的科研领域,来应用我们的产品与技术。我们的现阶段包含三大产品线:
QSense:用于研究大分子界面以及相互作用的分析仪器
QSense耗散型全自动八通道石英晶体微天平;
QSense四通道石英晶体微天平QCM-D;
QSense Explorer单通道扩展版QCM-D;
QSense Initiator单通道基础版QCM-D;
KSV NIMA:单分子层薄膜的构建与表征工具
LB(Langmuir-Blodgett)膜分析仪;
气液、液液/气固界面上有序单层和多层结构的组装和表征
布鲁斯特显微镜;
无损实时监测空气/水界面处分子层的图像
界面剪切流变仪;
高灵敏度测量液体界面处的流变性能
浸渍镀膜机;
无振动,可程序控制的固体样品浸渍方案
界面红外反射吸收光谱仪
用于薄膜和漂浮的单分子层膜的*的表面光谱方法
Attension:界面科学与材料技术所用的表面张力测量设备
光学接触角测量仪/表界面张力仪 Theta/Theta Lite/Theta QC光学接触角测量仪
力学法表界面张力仪Sigma 700/701/702/702ET/703D表/界面张力仪
主要的客户来自于学术机构、科研单位以及企业研发部门。在科研领域,用户使用我们的仪器作为分析工具,以更好地开展基础或应用研究,获取和发表优异的科研结果。在工业应用领域,分析仪器同时用于基础研究和质量控制过程。我们的主要工业用户均为各领域性的*。目前,百欧林的用户已遍布70多个国家和地区。
中国代表处:
上海市浦东新区商城路800号斯米克大厦1125室
电话 86 21 6837 0071/68370072
info@biolinscientific.com
KSV NIMA 交替型LB膜分析仪
KSV NIMA LB膜分析仪(全称:Langmuir-Blodgett膜分析仪)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备,是LB膜的沉积领域应用zui广泛的一款设备。KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。
KSV NIMA LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头,在所需的堆积密度下,镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上,镀膜井可以在Langmuir膜下为固体样品提供空间。将Langmuir膜转移到样品上,密度,厚度及均匀性等性质将会保留,从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比,LB沉积方法受功能性分子的分子结构限制影响很小,这意味着LB技术是*能够进行自下向上的一种组装方法。
KSV NIMA交替型LB膜分析仪为我公司LB膜分析仪系列中的一款特色产品。它可用于两种材料的交替层镀膜,包括两个槽体,两个表面压力传感器和两对滑障。该槽有两种尺寸,标准型和大型。
位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动,具有较强的流动性,易于控制其堆积密度,研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池(称顶槽)中的水亚相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。
在进行典型的等温压缩测试时,单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)zui后形成有序的固相(S)。在气相中,分子间的相互作用力比较弱;当表面积减小,分子间的堆积更为紧密,并开始发生相互作用;在固相时,分子的堆积是有序的,导致表面压迅速增大。当表面压达到zui大值即塌缩点后,单分子层的堆积不再可控。
图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响
LB膜沉积过程是将样品从单分子层中垂直拉出(图2a),通过反复沉积技术可制备多层LB膜(图2b),亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。
图2 (a). LB沉积过程示意图;(b). 多层单分子膜的制备
交替型LB膜分析仪的镀膜过程如图3所示。当使用两个单分子层压缩沉积池和一个空白沉积池时,可实现交替镀膜,浸渍过程可在3个沉积池中选择任意路径多次循环(图3a);在共同的亚相(浅蓝色)上方,有两种不同的单分子层(紫色和深蓝色)(图3b);上臂将样品向下通过单分子膜,由下臂接住样品。沉积循环也可从亚相开始,进行*层镀膜(图3c);下臂可根据需要旋转到另一单分子层的沉积池或空白沉积池中,改变沉积池(图3d);下臂提起样品,传递给上臂(样品从任意一侧通过两个单分子层中任意一个),进行第二层镀膜(图3e)。
图3 (a). 交替沉积池构造示意;(b). 样品在在夹具上;(c). *层镀膜;(d). 改变沉积池;(e). 第二层镀膜
4.2.1 联用或相关分析技术
KSV NIMA LB膜分析仪可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS),布鲁斯特角显微镜(BAM),界面剪切流变仪(ISR),荧光显微镜,X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如:
4.2.2 本公司可提供联用仪器简介
带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。
可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。
3. 表面电位测量仪(SPOT)
使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化,从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息,可对任何Langmuir等温测试进行补充。
4. 界面剪切流变仪(ISR)
这种*的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究,在控制表面压的同时,可对粘弹性进行分析。
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