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Thick 8000 天瑞镀层测厚仪/X射线荧光光谱仪/光谱分析仪

型号
Thick 8000
上海盖文实业发展有限公司

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(光谱、色谱、质谱、力学)分析仪器;(ROHS、镀层、矿产、卤素、环境)测试仪器

上海盖文实业有限公司以销售实验仪器和过程仪器为主,提供成熟的技术,全面的解决方案。目前已同多家仪器制造商达成协议。

现主要销售产品有:物理化学光谱仪类:等离子体发射光谱仪ICP,X射线荧光光谱仪XRF,原子吸收分光光度计AAS,也想色谱仪GC,气象色谱质朴联用仪等。

环境试验设备,力学实验设备:恒温恒湿箱,高低温试验箱,高温箱,冷热冲击箱,步入式恒温箱,紫外光试验箱,臭氧老化箱,氙灯耐气候试验箱,砂尘试验箱等。

可靠性实验设备:耐摩擦试验机,跌落试验机,摇摆机等。

X检测设备:应用于不同行业的安检设备。

当众仪器公司正在适应生命科学市场,寻求挤入快速增长的市场和技术部分,试图进一步平衡公司规模和运营效率时,我司将直面挑战,致力为客户提供好的设备,好的服务,走在行业前沿,携手与广大用户创造行业新篇章。

详细信息

镀层测厚仪X荧光光普仪性能优势

天瑞镀层测厚仪/X射线荧光光谱仪/光谱分析仪

1.精密的三维移动平台 
2.的样品观测系统 
3.*的图像识别 
4.轻松实现深槽样品的检测 
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 
6.双重保护措施,实现无缝防撞 
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位; 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样; 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦; 
直接点击全景或局部景图像选取测试点; 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

镀层测厚仪X荧光光普仪技术指标

天瑞镀层测厚仪/X射线荧光光谱仪/光谱分析仪

分析元素范围:硫(S)~铀(U) 
同时检测元素:zui多24个元素,多达5层镀层 
检出限:可达2ppm,zui薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同) 
重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
*的微孔准直技术:zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头 
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃


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