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首页>半导体行业专用仪器>其它半导体行业仪器设备>少子寿命测试仪

WJ-100A 厂家微波光电导少子寿命测试仪

型号
WJ-100A
北京同德创业科技有限公司

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生产厂家

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详细信息

厂家微波光电导少子寿命测试仪 型号: WJ-100A
产品简介
     WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法,适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量,提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况,是半导体质量的重要检测项目。
厂家微波光电导少子寿命测试仪     寿命测量范围:0.25μs-10ms;样品电阻率下限>0.5Ω·cm。
     读数方式:数字直读。

产品名称:卧式低温恒温槽
产品型号:DCW0506

卧式低温恒温槽型号:DCW0506

【技术参数】:


型     号

温度范围(℃)

温度波动度(℃)

工作槽容积(mm3)

工作槽开口(mm2)

容  积

(L)

循环泵
流量(L/min)

DCW-0506

-5~100

±0.05

250×200×150

180×140

7.5

6

DCW-0510

-5~100

±0.05

250×200×200

180×140

10

6

DCW-1006

-10~100

±0.05

250×200×150

180×140

7.5

6

DCW-1008

-10~100

±0.05

280×250×140

235×160

8

6

DCW-1010

-10~100

±0.05

250×200×200

180×140

10

6

DCW-1015

-10~100

±0.05

280×250×220

235×160

15

6

DCW-2006

-20~100

±0.05

250×200×150

180×140

7.5

6

DCW-2008

-20~100

±0.05

280×250×140

235×160

8

6

DCW-2010

-20~100

±0.05

250×200×200

180×140

10

6

DCW-2015

-20~100

±0.05

280×250×220

235×160

15

6

DCW-3006

-30~100

±0.05

250×200×150

180×140

7.5

6

DCW-3010

-30~100

±0.05

250×200×200

180×140

10

6

DCW-3506

-35~100

±0.05

250×200×150

180×140

7.5

6

DCW-3510

-35~100

±0.05

250×200×200

180×140

10

6

DCW-4006

-40~100

±0.05

250×200×130

180×140

6.5

6


【主要特点】:
微机智能控制系统,具有温保护、温度传感器异常保护功能,确保试验安全,触摸按键操作可快速准确设定温度,操作方便。
微机系统方便修正显示温度与实际温度的误差,温度修正分辨率达0.01℃,使数显温度值准确无误。特殊用户PID参数可自行重新设定,并具有PID自整定功能。
高效全封闭压缩机制冷,降温速度快。制冷系统具有过热、过电流等多重保护。
精确的温度控制,使工作槽内温度快速恒定。良好的内循环/外循环泵系统,内循环使温度均匀恒定,外循环泵输出6L/min、13L/min流量的恒温液体去建立机外第二恒温场,还可作为冷
源去冷却机外实验容器。
卧式低温恒温槽精密的制造工艺,使仪器结构紧凑,适宜于放在台桌上操作。

【主要应用】:
泛用于石油、化工、电子仪表、物理、化学、生物工程、医药卫生、生命科学、轻工食品、物性测试及化学分析等研究部门,高等院校,企业质检及生产部门,为用户工作时提供一个热冷受控,温度均匀恒定的场源,对试验样品或生产的产品进行恒定温度试验或测试,也可作为直接加热或制冷和辅助加热或制冷的热源或冷源。


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