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XM-STD-6 食品安检测仪
- 型号
- XM-STD-6
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详细信息
1.食品安检测仪 型号：XM-STD-6
食品安检测仪 6合1食品安快速检测仪
、产品简介
XM-STD-6食品安快速检测仪主要用于各种食品与农产品中农药残留、甲醛、亚硝酸盐、二氧化硫、吊白块和重金属等的快速定量测定。
二、产品详细介绍
XM-STD-6食品安快速检测仪采用分光光度法，快速定量测定食品中各种常见项目。适用于食品企业、农业基地、农贸市场、质量监督和卫生防疫等对食品安行监测。
仪器参考 JB／T9324-1999可见分光光度计业标准并根据Q/XSTD 09-2005开发；
【仪器原理】
被检食品样品中的相关标成分与显色剂在定的条件下发生异性反应，可生成不同颜色深度的产物，这些产物对不同波长可见光会产生有选择性吸收，颜色的深浅即吸光度的低与样品中该标成分的浓度成相关性，并在适当的浓度范围内服从朗伯—比尔定律。因此检测的吸光度值经仪器内置的标准曲线软件自动计算可得出样品中该标成分的准确浓度及是否标的结果。
【检测项目】
农药残留、甲醛、亚硝酸盐、二氧化硫、吊白块和重金属等
【检测条件】
适用于非业人员现场快速检测，无须殊实验条件
【仪器点】
1. 仪器前处理简便、测量速度快：检测时间约为15分钟；
2. 用试剂盒显色，安可靠，不会对实验员产生危害；
3. 检测方法参考家相关标准方法及其改方法；
4. 仪器内置各种检测项目标准作曲线和标*，无须行标准品实验或校正等计算，即可自动显示判断结果或打印；
5. 仪器采用集成微电脑控制系统，可*升；
6. 大屏幕彩色液晶显示器，，人性化操作界面，中文提示操作步骤；
7. 带有RS-232和USB数据接口，检测数据可直接上传监控系统；；
8. 仪器型美观、重量轻，便于携带及车载使用。
【仪器硬件标】
1. 光源：带稳压电路的亮LED光源组
2. 光电传感器：灵敏度硅光电池
3. 稳定性：＜2.5%/3min漂移
4. 准确度: ±5%
5. 重复性: RSD≤1.0%
6. 存储容量 :100组数据
7. 数据接口 : RS-232C和标准USB2.0接口
8. 电源： 220V AC，50/60Hz和车载12V DC /2A
9. 输入方式：软触摸按键
10. 显示方式：大液晶显示屏，320×240点阵，带背光
11. 打印机：嵌入式热敏打印机
2.恩式粘度计/粘度计 型号：FTD-SYA-266
、用途：
用于测量石油产品及其他油类产品的粘度。
二、 主要规格：
1、温度范围：室温～100℃
2、控温误差：±0.2℃
3、水值：5ls±1s
4、量瓶：200ml
5、电源：～220V,50HZ
3.电子天平 型号： LP-JJ1000
简要说明:LP-JJ1000电子天平：zui大称量1000g，分辨率0.01g，秤台尺寸 Φ135mm
详细介绍:
产品说明
JJ系列电子天平是继T系列电子天平之后推出的更度的产品，凭借简单的操作，较的度和灵敏度获得了顾客的青睐。它继承了T系列电子天平的优点并具备了自身的优势，水平泡和水平调整脚保证天平自身和数据的稳定，此外，天平配置有标准RS232接口，可连接打印机和计算机。
产品描述 外形
·3种称重单位：克,克拉,金衡盎司 ·坚固的铝合金底座
·计数能(取样数：1/10/20/50/100) ·塑料外壳，简单易清理
·称量去皮 ·应变式传感器
·自动校准能 ·不锈钢秤盘
·透明防风罩
·绿色荧光显示屏
型号 | LP-JJ100 | LP-JJ200 | LP-JJ300 | LP-JJ500 | LP-JJ600 | LP-JJ1000 |
zui大称量 | 110g | 200g | 300g | 500g | 600g | 1000g |
分辨率(d） | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g |
检定分度值(e） | 10d | 10d | 10d | 10d | 10d | 10d |
去皮范围 | 0~110g | 0~200g | 0~300g | 0~500g | 0~600g | 0~1000g |
校准重量 | 100g | 200g | 200g | 500g | 500g | 1000g |
秤台尺寸 | Φ135mm | |||||
体积 | 213（长)×195（宽）×75（）mm | |||||
供电 | AC220V±10% 50Hz±1Hz | |||||
使用温度 | 0~40℃ | |||||
使用湿度 | ≤80%RH | |||||
串口 | RS232 | |||||
〖 关闭 〗
4.单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号：GZ-LT-2
| GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而的用于测量硅单晶的非平衡少数载子寿命。半导体材料的少数载子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较，配备有红外光源，可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本仪器根据际通用方法频光电导衰退法的原理，由稳压电源、频源、检波放大器，制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 术 标 ： | ||||||||||||||||||||||||
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5.漏电钳形表/漏电保护检测仪 型号：DH-2413F
DH-2413F-点
●有宽的夹钳，非常适合夹三或四线(三相)的电线，可测其泄漏电 |
型号 | DH-2413F |
交电(50/60Hz) | 200mA/2/20/200A/1000A读数的±1.5%±2位 |
交电(WIDE) | 200mA/2/20/200A/1000A |
被测导体尺寸 | zui大68mm |
安标准 | IEC61010-1 CAT.III 300V |
外界磁场影响 | zui大交 10mA |
频率响应 | 40Hz～1kHz |
输出 | 交/直200mV时读数2000 |
耐压 | 3000V AC - 分钟 |
电源 | 6F22(9V)×1 |
体积 | 250(L)×1 30(W)×50(D)mm |
重量 | 约570克 |
〖 关闭 〗
温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的
