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上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT
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上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT
附电脑、打印机
UV757系列紫外可见分光光度计能在紫外、可见光谱区域内对样品物质作定性和定量的分析。主机功能:
采用微机测量系统,τ-A转换精确,自动调整0%(τ)和调整*(τ),具有GOTOλ,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和截距设置等功能,具有RS232接口和并行打印口(打印机,另行选配)。
联机功能:
通过RS232串行接口,可利用上层软件作全波长扫描,时间扫描,浓度回归方程(1次、2次、3次),多波长测试,并大大扩展测试功能(除主机功能外)。
上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT
技术指标:
◆波长范围:200nm~1000nm
◆光源:钨卤素灯12V20W(进口) DD2.5氘灯(进口)
◆接收元件:光电池
◆波长zui大允许误差:±0.5nm
◆波长重复性:≤0.2nm
◆光谱带宽:2nm
◆杂散光:≤0.3%(τ)(在220nm以Nal测定和340nm处以NaNO2测定)
◆透射比测量范围:0.0%(τ)~200.0% (τ)
◆吸光度测量范围:-0.301(A)~4.000(A)
◆透射比zui大允许误差:±0.5%(τ)
◆透射比重复性:≤0.2%(τ)
◆噪声:*噪声≤0.5%(τ) 0%噪声≤0.2%(τ)
◆稳定性:≤0.004A/30min
其它:
◆电源:AC220V±22V 50Hz±1Hz
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