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Evolution 201 & 220 赛默飞世尔（thermofisher）紫外分光光度计Evolution 201 220
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- Evolution 201 & 220
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上海莱睿科学仪器有限公司自成立以来，始终恪守“激.情，奋进，责任”的理念，以诚信的经营之道赢得客户的信任。公司设在上海，通过与分销伙伴的紧密合作，公司在不断的快速发展之中，致力于为客户提供专业、方便、快捷的本地化服务。多年来，公司依托生命与化学事业部，电子事业部，并与Agilent，Thermo, Spectro，Tektronix，Fluke，Waters，Keithley等公司良好的合作关系，为用户提供优良品质的实验室仪器、设备，到为客户度身定制系统的实验室整体解决方案，通过专业、细致和全面的技术支持服务实现“为客户创造更多价值”的承诺。我们所提供的产品和服务被广泛应用于工业电子制造、文教科研院所、通信以及信息技术、生物制药实验室、石油、政府检测机构、烟草、食品、生命科学等多种领域。
展望将来，公司将会引进更多的化学和电子的分析和测试的仪器，为客户提供测试测量技术开发、产品配套、维修、租赁、第三方仪器设备外包管理、采购管理等。并将更多专业的应用技术渗透到日常服务中去，更便捷、更周到地满足客户需求。对莱睿公司而言，客户需要的正是我们所追求的，是我们孜孜以求的坐标和不断超越的动力！在未来激烈多变的市场竞争中，莱睿将与客户一起携手并进，共创辉煌！
详细信息
赛默飞世尔（thermofisher）紫外分光光度计Evolution 201 220拥有强大的软件、的技术、以及一整套的附属设备，能够提供您所期望的高质量实验结果。具有便捷和多样化的分析功能。
赛默飞世尔（thermofisher）紫外分光光度计Evolution 201 220采用了赛默飞世尔科技科研技术，以其*的双光束光路设计、的INSIGHT用户软件、完备而功能强大的光谱附件，为用户提供丰富的光谱分析功能，全面的定量分析和动力学分析解决方案，并可轻松应对挑战性样品，如散射物质的透射性能分析，反射测量等。Evolution 200系列产品提供本地控制和计算机控制两种配置，也可以把两种控制模式结合起来，其均使用相同的INSIGHT软件，使仪器始终都处于*的状态，提供便捷和多样化的分析功能。2011年7月，产品荣膺被誉为科技界“创新奥斯卡”的R&D 100大奖。
特点：
1.主页面把测试和使用方法显示在*个页面，方便浏览和使用。
2.用CUE 软件建立自己的分析方法，CUE是一个使用简单、一步一步的类似流程图的工具，可以为分析制定完整的多步骤分析流程。适应所有的QA/QC应用程序，具有丰富的光谱分析功能，能够全面的定量分析解决方案，可自动显示、保存和输出结果的功能。
3.一整套的样品池转换器，温度控制和监测设备，光纤实验系统，以及用来测量固体样品反射和透射的附件，拓展分光光度计的功能，提升了仪器的价值。
4.高性能，为用户体验而设计。1.0nm的分辨率，双光束（Double-Beam）配置都能提供zui准确的数据；光学汇聚技术；可屏蔽的样品检测器；样品仓不受环境光线影响，测量过程中可打开，配有开启按钮的滑动样品仓开启门。
5.便捷的手控功能，采用触摸屏的内置计算机可用手指进行常规操作。
6.触发信号连接帮助您与外界进行互动。
7.USB接口可外接计算机，从而通过INSIGHT软件进行仪器控制、数据分析、存储。
8.单色仪在保证波长准确前提下，实现快速扫描功能，扫描速度从<1到6,000nm/min。
9.汞灯端口可提供全波长范围的波长准度和波长再现性的校准。
10.闪烁氙灯光源仅在进行测量的时候发出强烈的闪光，能够保证持续工作3年，具有使用成本低廉，维修间隔周期长，在可见光区和紫外区都具有很高强度，不需要预热的优点。
11.INSIGHT软件：简单好用，成熟精深,具有的多功能和灵活性：扫描测量；固定波长测量；定量分析；动力学分析；
12.可本机控制、计算机控制、或者把本机控制和计算机控制结合起来。
13.的温度控制。
14.系统性能的可靠保证，校准评价圆盘（CVC）能够为常规的仪器测试提供可溯源的标准，能自动测试性能。
15.积分球可分析散射物质的透射性能、反射性能。
技术参数：
Evolution 201紫外分光光度计 | Evolution 220紫外分光光度计 | |
光学系统设计 | 双光束配有样品和参比池架位置；Czerny-Turner单色仪 | 双光束配有样品和参比池架位置；AFBG技术；Czerny-Turner单色仪 |
光谱带宽 | 1.0 nm | 可变：1 nm或者2 nm；AFBG微量池优化；AFBG光纤模块优化；AFBG材料测试优化 |
光源 | 闪烁式氙灯，质保3年（一般可用5年） | |
检测器 | 双硅光电二极管 | |
扫描坐标模式 | 吸光度Abs，透射率T%，反射率R%， Kubelka-Munklog（1/R），log（Abs），Abs*Factor，强度Intensity | |
分辨率 | >1.6（峰-谷比；甲苯正己烷） | |
波长范围 | 190到1100 nm | |
波长准度 | ±0.8 nm（全量程190到1100 nm）±0.5 nm（546.11 nm汞线） | |
重复性 | 0.1 nm（546.11 nm汞线， 10次测量标准偏差） | |
扫描速度 | < 1到6000 nm/min，可调节 | |
数据间隔 | 10，5，2，1.0，0.5，0.2，0.1 nm | |
吸光度范围 | > 3.5 A | |
吸光度显示范围 | -0.3到4.0 B1115A | |
仪器准度 | 0.5 A：± 0.004 A ，1 A：± 0.006 A ， 2 A：± 0.010 A 依照NIST/NPL，使用中等强度滤光片，在440 nm测量 | |
准度—密封溶液（EP/BP/TGA） | ± 0.010 A（60 mg/L K2Cr2O7） | |
噪声 | 0 A： 0.00015 A ，1 A： 0.00050 A ，2 A： 0.00080 A ，260 nm，1.0 nm SBW，RMS | |
漂移（稳定性） | < 0.0005 A/hr ，500 nm，1.0 nm SBW，1小时预热 | |
杂散光 | KCl，198 nm： 1% T ；Nal，220 nm： 0.05% T ；NaNO2，340 nm： 0.05% T | |
基线平直度 | ± 0.0010 A ，200到800 nm，1.0 nm SBW，平滑处理 | |
键盘 | 膜密封 | |
本机控制显示 | 触摸屏LCD面板；800×480；17.8 cm（对角线）屏幕 | |
本机控制操作系统 | 内置微软Windows XP | |
尺寸 | 62.2 cm长 ×48.6 cm宽 × 27.9 cm高 | |
重量 | 14.4公斤 | |
电源 | 100-240伏，50-60Hz，自动选择zui大功率150瓦 | |
