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OLYMPUS 45MG*声测厚仪,*声波测厚仪使用说明,*声波测厚仪原理
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经销商上海旦鼎贸易有限公司
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【产品名称】:OLYMPUS 45MG*声测厚仪,*声波测厚仪使用说明,*声波测厚仪原理
【产品型号】:45MG
【关键词】:*声波测厚仪品牌,*声波测厚仪原理,*声波测厚仪厂家
产品特点:
回波到回波/穿透涂层:使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,无需去掉材料表面的漆层或涂层。
单晶: 这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描: 用户使用这个可选实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看*声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中较为大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、*回波空白、范围及延迟参数。
技术规格:
测量 | |
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
自动回波到回波(可选) | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。 |
穿透涂层测量 (可选) | 利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头) |
单晶探头测量模式(可选) | 模式1:激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 |
厚度范围 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量较为全的范围需要使用单晶选项) |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可选择) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) |
探头频率范围 | 标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般规格 | |
操作温度范围 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) | 总体尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
电池工作时间 | 3节AA碱性电池:20到21小时 |
标准 | 设计符合EN15317标准 |
显示 | |
彩色透反QVGA显示 | 液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波(波形选项) |
输入/输出 | |
USB | 2.0从接口 |
存储卡 | 较为大容量:2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
内置数据记录器(可选) | |
数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形 |
文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码 |
文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
报告 | 机载报告总结了数据统计和较为小值/较为大值 |
上海旦鼎公司简介:
上海旦鼎(www.dookings。。com)实业有限公司于2007年组建实验室仪器配套仪器设备供应链,实力雄厚、管理科学、质量保证,售后完备、信誉至上。
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