1.自动凝点、倾点测定仪QY-DRT-1117A自动凝点、倾点测定仪QY-DRT-1117A

本仪器以家标准GB/T 510、GB/T 3535-2008为依据，采用多个单片机组成的主控件，自动制冷、 自动恒温、自动检测，并自动打印输出结果， 可自动成石油产品倾点/凝点的测试， 本仪器采用的液面检测可检测到液面的微小变化，德丹佛斯口压缩机制冷系统确保达到要求的制冷深度。不易损坏。采用干式阱形冷浴箱，滞后性小、降温快，不需要其它冷却介质，方便使用和维护。采用性能红外线检测，检测灵敏度，可靠性强。

本仪器结构合理，性能稳定，操作简单，是理想的分析检测设备。

产品用途：用于深色石油产品、原油及其他透明或半透明石油产品产品倾点、凝点分析。
二、符合标准：GB/T 3535-2006  GB/T510
三、参数：
1、测温范围：-40～60℃；分辨率 0.1℃和-68～60℃；分辨率 0.1℃

3、测试样品数：2路，分别倾斜。

4、测温元件：PT100(德JUMO公司测温传感器)

5、检测方式：上置式光电液面检测器试样自动倾斜(美口红外检测器)

6、制冷方式：单压缩机制冷（法DANFOS）

7、检测间隔：由用户设定（1～10℃）

8、冷却方式：风冷（干式阱形冷浴箱）

9、 打    印：20列汉字点阵打印，仪器内置微型热敏打印机，其打印更安静、快速、清晰。实验结果可以自动打印。

10、显    示：7寸彩色液晶触摸屏，图文显示细腻无锯齿，颜色艳丽，显示分辨率；塑料注塑的体化显示屏面框美观大方；中文操作界面，显示直观。同时，具备限管理能，有效避免非业人员对本测定仪关键参数行设定。

11、环境温度：10～35℃

12、环境湿度：30%～80% RH

13、电    源：AC220士10％V 50Hz士2Hz       率：小于 1500kw
四、 主要点：
1、该仪器采用分体式结构，*消除震动对絮状物的破坏及对测试数据的影响。

2、该仪器配备的上置式光电液面检测器可检测到试样倾斜时水平液面的微弱变化，凝点/倾点判断。

3、该仪器采用了微倾斜，在缓慢倾斜的过程中，旦检测到液面有移动，立刻停止倾斜，恢复垂直状态，而不在多次倾斜后将试管取出行加热。

4、自动控制，冷却介质与被测试样的温差，保证降温速度受控且均匀稳定。

5、内置微型加热器使试样快速升温，而不将冷却介质的温度加热的过。

6、内RS-232C 标准接口电路，可与PC机连接；也可以连接LIMS系统

2.半导电橡塑材料电阻温测试架/电阻温测试架 型号：HHY8-DB-4/DB-5

测试架是与本公司的HHY8-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪的配套产品。HHY8-DB-4仪器是检测半导电橡塑材料在23°C时的电阻率值，配上本测试架后可以扩展能，将本测试架放入烘箱，可以检测该材料在0~180°C温下，电阻率变化值。

本测试架有以下点：

1、  性能符合标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电电、电压电，及加压系统，样品盒缘强度大于10¹²Ω。

2、   投资少具有标准接口，能与HHY8-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻仪配套使用，能满足新老用户的要求，凡以前已购买了HHY8-DB-4仪器的用户不再买仪器烘箱了，应用原有仪器设备省钱省事。

3、   作可靠，作温度范围大采用强度缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期作，为研究分子材料在90~120°C乃至180°C温条件的电阻率变化，提供了有力保障。

4、   操作简单，使用方便，寿命长。

附注：HHY8-DB型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪于1985年通过鉴定，是依照标GB3048.3-83的要求行的，在20多年运用中，仪器几经改，又有200多家电缆厂、粒厂、研究所、大学购买了本仪器，经过漫长岁月的考核使用后，实践充分证明本仪器，测量度，性能稳定可靠，使用操作方便，是内*符合GB3048.3要求的仪器，深受内外各交联电缆厂，分子材料厂，半导电橡胶厂，校研究所的欢迎，是半导电材料体电阻率性能研究时的仪器设备

3.电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/电阻测试仪 型号：HHY8-DB-4

HHY8-DB-4电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据家标准GB3048.3—94研究成的测量设备，主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，若换上殊的四端子测试夹，还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻行测量

经过了十多年的实际运行，近百家主要电缆厂和半导电屏蔽材料厂均已采用了该仪器，它是目前*符合家标准GB3048.3-94的测量半导电橡塑材料电阻率的仪器。

   仪器为台式结构，主要由电气箱、测试架两大分组成，固定在用作台上，电气箱包括灵敏的直数字电压表和稳定的直恒源，测量结果采用LED数字直接显示，测量电输出也采用LED数字显示，从0—100mA范围内可意调节，可达到控制测试率损耗的规定，仪器测试架由电、压力探头、样品台及电动传动机构组成，操作按键电钮，可行半自动测量。

   仪器具有测量度、稳定性好、结构紧凑、使用方便等点，符合际和家标准的要求。

   仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、等院校、研究等，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、检测，是需的测试设备。

   仪器主要标：                                                           

、 测量范围：10^-4--10³Ω-cm可扩展到10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

二、 数字电压表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  测量误差  0.2mA档±(0.5%读数+8字)；2mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3．  显示3 1/2 位数字显示0—1999具有性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

三、 恒源：

1．  电输出：直电0—100mA连续可调，由交电源供给，数字显示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  电误差：±(0.5%读数+2字)

四、 测量电：

1．  电电：宽度50mm,与试样的接触宽度5mm，两个电电间的距离110mm

2．  电位电：宽度50mm，接触半径，两个电位电间的距离20mm±2%

  五、电源：220±10%   50HZ或60HZ 率消耗<50W

六、外形尺寸（包括测试作台）1200×600×1050mm（长×宽×)

4.二探针单晶硅及多晶硅测试仪　型号：HHY8-GL-1

本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和。

    为适应大规模集成电路的迅猛发展，别是计算机芯片、内存的发展，越来越多的使用到了大直径、纯度、均匀度更的单晶硅材料。目前，在美、德等的业家，均采用了二探针法，使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。

仪器符合美ASTM 《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准，是种新型的半导体电阻率测试仪，适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率，从而步判断半导体材料的性能，导和监视操作，也可以用来测量金属材料的电阻，仪器具有测量度、稳定性好、结构紧凑、使用方便、型美观等点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。

    仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三分，仪表电气控制箱由灵敏度直数字电压表、抗干扰隔离性能的电源变换装置、稳定度恒源和电气控制分组成。测量结果由大型LED数字显示，零位稳定、输入阻抗，并设有自校能。在棒状材料使用二探针法测试时，具有系数修正能，从面板输入相应的修正系数，可以直接读出电阻率，使用方便。测试台结构新颖，型美观，可以方便地固定好大小意尺寸的样品，并可以作逐点选择步测量，也可以自由选择固定位置测量，电活动自如，具备锁定装置，方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅，测试探头能自动升降，探针为碳化钨材料，配置宝石轴承，具有测量度、游移率小、耐磨、使用寿命长点。同时探头压力恒定并且可调整，以适合不同的材料。

仪器主要标：

1.可测硅材料尺寸：

     直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的要求。

     长度：100~1100mm.

2.测量方式：轴向测量，每隔10mm测量点。

3.测量电阻率范围：10^-3~10³Ω-cm,可扩展到10⁵Ω-cm。

4.数字电压表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）测量误差：±0.3%读数±2字

    （3）输入阻抗：0.2mV和2mV档>10⁶Ω

                  20mV档及以上>10⁸Ω

    （4）显    示：3^1/2位LED数字显示，范围0~1999。

5.恒源：

    （1）电输出：直电0~100mA连续可调。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）电误差：±0.3%读数±2字

6.二探针测试装置：

    （1）探针间距：4.77mm

    （2）探针机械游移率：0.3%

    （3）探针压力：0~2kg可调

    （4）测试探头自动升降

7.二探针测试台

    （1）测试硅单长度：100-1100mm

    （2）测试点间距：10mm

    （3）测试台有慢、快二种移动速度，快速移动速度为1000mm/分（均匀

手动）

8.电源：交220V±10%，50HZ±2HZ，消耗率<150W

5.数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：HHY8-SZT-2000

HHY8-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状

半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻行测量，可以从10^-6--10⁵Ω—cm量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的需仪器。

仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大分，用户可以根据测试需要安放在般作台或者用作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。

仪器电气箱主要由灵敏的直数字电压表和稳定的恒源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能行校验。

仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、研究、等院校，对半导体材料的电阻性能测试及检测。

仪器主要标：

1．  范围：电阻率10^-4—10³Ω—cm，可扩展至10⁵Ω—cm，分辩率为10^-6Ω—cm

         方块电阻10^-3—10³Ω /□

         电阻10^-6—10⁵Ω

2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm

3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）

4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）

              2 mV档以上±（0.3%读数+2字）

  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡10⁵Ω

              20mV档以上>10⁸Ω

  (4)显示3 1/2位数字显示，0—1999

具有性和过载自动显示，小数点、单位自动显示

5．  恒源：（1）电输出：直电0—100mA连续可调，由交电源供给

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档

   （3）电误差：±（0.3%读数+2字）

6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%

                   (3) 探针：Φ0.5mm    (4)压力：可调

  7. 测试架：

  （1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。

  （2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。

   8.电：220V±10% 50HZ或60HZ：率消耗<35W

9．    外形尺寸：电气箱130×110×400mm

温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的