UX-700 X射线荧光镀层测厚仪
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惠州市华高仪器设备有限公司成立于2012年5月4日，经营范围：仪器仪表、实验设备、电子设备、电子产品、电子工具、电子元器件的销售及技术资料、维修服务。
经营主要产品：XRF测试仪、Rohs检测仪、x射线仪器、色谱、质谱、光谱、表面分析仪、直读光谱仪、元素分析仪、无损检测仪、热分析系统、三坐标测量系统、金相制样设备、气体分析仪、水质分析仪、光学测量仪器、测色仪、环境试验设备、玩具安全测试仪、量具等仪器仪表。
经营主要品牌：华唯计量、海克斯康、SPECTRO、赛默飞世尔、日本日立、美国安捷伦等在中国区的授权代理商，以及德国耐驰等在华南主要经销商。德国斯派克、日本三丰、奥林巴斯、蔡司、美国博曼、美国是德、美国善思、瑞士万通、澳大利亚GBC、美国伊诺斯、牛津、德国马尔、日本美能达、美国Interscan、思瑞测量、七海测量、西安力德、中旺、爱斯佩克惠州特约经销商。
公司本着专业为上、服务为先、诚信为本、踏实敬业、载誉天下的经营理念。在已有成绩的基础上，近年来一直不断拓宽产品线，提高销售人员素质，建设完善售后服务团队，致力于将国内外优质的产品推荐给用户，并把客户的满意度作为公司的高荣誉；公司经过数年耕耘，已经拥有数量众多的用户。热忱欢迎广大新老客户前来洽购、指导！
详细信息
X射线荧光镀层测厚仪UX-700 华唯
配置型号 | 探测器 | X光管 | 高压电源 |
Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | 咸阳威思曼(国产) |
Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | spellman(进口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(进口) | 上海科颐维（国产） | spellman(进口 |
X射线荧光镀层测厚仪UX-700产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：149eV
高压范围：5-50Kv，50W
X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：镀层滤光片
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø0.5mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：70*20mm
整机重量：38kg
UX-700产品介绍：
本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多*条件的选择，保证测试结果的准确性。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。
Ux-700镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
UX-700 镀层测厚方法：
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
常用单位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）
1um=39.4迈， 1um=0.04mil
