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MX51工业检测半导体显微镜

型号
参数
产地类别:进口 应用领域:综合
上海西努光学科技有限公司

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奥林巴斯显微镜,奥林巴斯工业内窥镜,iX高速摄像机,标乐金相制样设备,威尔逊硬度计,navitar镜头,日立扫描电镜,加拿大WDI光学设备

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西努光学秉承“以光学为核心,为客户提供解决方案”的经验思路,经过16年的努力,成为众多企业、高校科研单位提供各种专业化的光学系统解决方案。并于2012 年导入SAP 管理系统,通过系统资源整合,为客户提供更优质、快捷的专业化服务。
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详细信息

MX51工业检测半导体显微镜 详细介绍:

考虑了检查效率的设计 高灵敏度载物台可以迅速决定位置

MX51工业检测半导体显微镜
内置离合器的载物台手柄
MX51主要操作部件集中在前面,操作人员易于操作,即使长时间操作也不会感到疲劳。150mm载物台内置离合器,可实现轻松移动。
MX51工业检测半导体显微镜
电动物镜转换器示意图
电动物镜转换器示意图 电动物镜转换器的切换速度比原来提高了20%。物镜的切换,可以操作按钮瞬时间完成,提高了检查速度。三种洁净类型的物镜转换器可以按需选择。另外,UIS2物镜大幅度地提高了高倍率的偏心精度。即便是有小尺寸摄像元件的CCD摄像机,在切换倍率时也不会由视场中心附近偏离。

鲜明图像和的分辨率为特点的光学系 多种选择可实现的成像性能

UIS2物镜拥有各种倍率、特殊用途物镜等丰富的产品阵容,可按照用途选用。另外,波像差控制带来的高品质,忠实于样本的中性色彩显示等,UIS2物镜无论是在目视观察中还是在数码影像观察中都能发挥它的性能。

观察影像实例

MX51工业检测半导体显微镜
明视场观察
MX51工业检测半导体显微镜
暗视场观察
MX51工业检测半导体显微镜
微分干涉观察
MX51工业检测半导体显微镜
荧光观察

丰富的产品阵容,可按需选择
MPLAPON 平场复消色差透镜 MPLFLN 平场半复消色差透镜
MPLFLN-BD 明暗视场用平场半复消色差透镜
MPLFLN-BDP 反射偏振光用平场半复消色差透镜
LMPLFLN 长工作距离平场半复消色差透镜
LMPLFLN-BD 明暗视场用长工作距离平场半复消色差透镜
MPLN 平场消色差透镜
MPLN-BD 明暗视场用平场消色差透镜
SLMPLN 超长工作距离平场消色差透镜
LCPLFLN-LCD 液晶长工作距离平场半复消色差透镜

MX51工业检测半导体显微镜软件方案
使用数码照相机记录和保存数码影像

帮助实现多种观察方法的附件
近红外线观察单元

由可见光线领域到近红外线领域的像差校正物镜,和红外线用超广角三目镜筒等,备有各种对应近红外线观察的单元。在晶圆凸出物接触面等的观察上发挥威力。

MX51工业检测半导体显微镜
近红外线观察单元
MX51工业检测半导体显微镜
近红外线观察

荧光观察单元

在滑杆上追加镜子装置可以对应荧光观察。备有U.B.G激励的反射镜装置,可有效地检查和分析有机EL和残留光刻胶。

MX51工业检测半导体显微镜
荧光镜单元
MX51工业检测半导体显微镜
荧光观察

透射照明单元

MX51工业检测半导体显微镜
透射照明单元
对应光掩模和FPD检查的透射照明单元。偏振光片的搭载,实现了透射简易偏振光观察。有通用的A型号和高NA(数值孔径)的B型号两种型号。
规格
光学系统UIS2光学系统(无限远校正)
机身观察方法明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光/荧光
反射/透射反射/透射
照明装置明暗视场反射照明管(明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光)
通用反射照明管(明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光/荧光)
照明系统反射照明100 W卤素/100 W水银/75 W氙
透射照明纤维光导
对焦单元电动/手动手动
行程32 mm
分辨率/微调灵敏度微调旋钮转动1周移动0.1 mm
zui大样本高度30 mm
物镜转换器电动型明视场微分干涉6孔
明暗视场微分干涉5孔
明暗视场微分干涉中心输出5孔
明暗视场微分干涉6孔
手动式明视场5孔
明视场微分干涉6孔
明视场微分干涉中心输出6孔
明视场微分干涉7孔
明暗视场5孔
明暗视场微分干涉5孔
明暗视场微分干涉中心输出5孔
明暗视场微分干涉6孔
载物台行程6×6英寸右下手柄:
158(X)×158(Y)mm (透射照明范围100×100 mm)
4×4英寸右下(左下)手柄:
100(X)×105(Y)mm (透射照明范围96×96 mm)
观察筒广角视场(视场数22)倒置双目/三目观察筒
正像三目观察筒
超宽视场(视场数26.5)倒置三目观察筒
正像倾斜三目观察筒
附件单元IR单元/自动装载
外形尺寸430(W)×591(D)×495(H)mm(标准组合)
重量26 kg(标准组合)


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