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USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
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西努光学创建于2003 年，主营工业显微镜及制样设备、镜片测定设备，高速摄像系统、工业内窥镜、机器视觉等工业及科研应用的检测设备及系统集成。
西努光学秉承“以光学为核心，为客户提供解决方案”的经验思路，经过16年的努力，成为众多企业、高校科研单位提供各种专业化的光学系统解决方案。并于2012 年导入SAP 管理系统，通过系统资源整合，为客户提供更优质、快捷的专业化服务。
2016 年，我们积极引进检测设备的同时导入制样等配套设备以丰富我们实验室平台，以更好的为客户提供现场体验，从微米到纳米满足客户从制样到结果分析的一站式体验服务。
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详细信息
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪的特点：
1、消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
2、可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于小区域（φ60μm），可测定镜片曲面以及镀膜层斑点。
3、测定时间短
使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
4、XY色度图、L*a*b测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
5、可测定的Hard Coat（高强度镀膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪主要用途：
1、各种透镜（眼镜透镜、光读取透镜等）
2、反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
| 规格 | |
| 测定波长 | 380 nm～780 nm |
| 测定方法 | 与参照样本的比较测定 |
| 被检物N.A. | 0.12（使用10×物镜时） 0.24（使用20×物镜时） * 与物镜的N.A.不同 |
| 被检物W.D. | 10.1 mm（使用10×物镜时） 3.1 mm（使用20×物镜时） |
| 被检物的曲率半径 | -1R ～-∞、+1R～∞ |
| 被检物的测定范围 | 约ø60 μm（使用10×物镜时） 约ø30 μm（使用20×物镜时） |
| 测定再现性（2σ） | ±0.1%（380 nm～410 nm测定时） ±0.01%（410 nm～700 nm测定时） |
| 显示分辨率 | 1 nm |
| 测定时间 | 数秒～十几秒（因取样时间而异） |
| 光源规格 | 卤素灯 12 V 100 W |
| 载物台Z方向驱动范围 | 85mm |
| PC接口 | USB方式 |
| 装置重量 | 机身：约20 kg（PC、打印机除外） 光源用电源：约3 kg 控制器盒：约8 kg |
| 装置尺寸 | 机身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用电源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm |
| 电源规格 | 光源用电源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC |
| 使用环境 | 水平且无振动的地方 温度： 23±5 °C 湿度： 60%以下、无结露 |
本装置不保证溯源体系中的精度。
可以特别订做测定波长440 nm～840 nm规格。
