FISCHERSCOPE XDLM231 X射线荧光测厚仪

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度，精度和可靠性的要求。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点,由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率,确保良好的重复精度。比较XUL和XUM仪器而言, XDL和XDLM系列仪器测星测星方向从.上到下。它们被设计为用户友好的台式机,使用模块化结构,也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。
配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面,这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品，当测量门开启时, XY工作台自动移动到加载位置,同时激光点指示测星点位置。对于大而平整的样品,例如线路板,壳体在侧面有开口(C形槽)。由于测星室空间很大,样品放置方便，仪器不仅可以测量平面平整的物体,也可以测星形状复杂的大样品(样品高度可达140mm)。Z轴可电动调整的仪器，测量距离还可以在0 - 80 mm的范围内自由选择,这样就可以测星腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)。

X荧光镀层厚度检测仪的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度 
　　                       2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析    
                           3、各镀层的成分比例分析。

●单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
●二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
●三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
●双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
●双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
●多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。 
●分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。 
●分析电镀溶液中的金属离子浓度。

X荧光电镀厚度检测仪设计特点：
☆ 单、双及三层镀层系统
☆ 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
☆ 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
☆ 能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量
☆ 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
☆ 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
☆ 报告生成，数据输出
☆ 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文
☆菜单中的某些选择项可授权使用
注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。
☆ 可随意创建测量应用
☆ 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
☆ 快速的频谱分析以决定合金成分 
 

笃挚仪器供应测量仪器，这些产品均由高品质的原材料和良好的技术制造，*，符合质量标准。我们经验丰富的质量控制团队对仪器提供的测试范围进行了各种参数的测试。我们的产品系列因其高性能，高效率，增强的耐用性和成本效益而赢得了客户的*好评。*，欢迎电询!