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首页>分析仪器>光谱>激光拉曼光谱(RAMAN)

SWIFT XS SWIFT XS拉曼光谱仪

型号
SWIFT XS
HORIBA科学仪器事业部

顶级会员9年 

生产厂家

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HORIBA 科学仪器事业部(HORIBA Scientific)隶属 HORIBA 集团,致力于为用户提供先进的检测和分析仪器:包括元素分析、荧光、刑侦、ICP、粒度表征、激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。

结合旗下的技术优势,包括拥有200多年发展历史的光谱制造技术Jobin Yvon,以及拥有*技术优势的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天,HORIBA Scientific 的各种检测分析仪器已经遍布各地,并在中国实现了销售和服务的本土化,位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。

详细信息

  实现毫秒级别超快速、高分辨拉曼成像
 
  全新 SWIFT XS 拉曼光谱仪
 
  ”
 
  无惧以往拉曼成像过程中的共焦和灵敏度等挑战,全新SWIFT XS超快速成像拉曼光谱仪,实现毫秒级别超快速、高分辨拉曼成像,帮助用户专注获取成像的细节和化学信息
 
  01配备优化EMCCD,*呈现超快速成像技术优势
 
  超快速
 
  高达1400条光谱/s,可几秒内获取拉曼成像图,节省测样时间,快速分析大量样品。
 
  高精度
 
  单个成像图可达百万像素,不仅保证大面积成像,同时可获取超精细成像图。
 
高精度图像 (>260万张光谱):
 
  1.9cm×0.9cm药片成像图,局部放大后显示更细节的药物各成分分布图
 
  高灵敏
 
  即使对于弱信号、有荧光干扰的生物样品,同样能进行超快速成像。
 
细胞微管成像,扫描范围92 μm x 71 μm,
 
  共40533条光谱,步长400nm,总成像时间:5 min 15s。
 
  绿色和黄色分别对应蛋白质和DNA的分布。
 
  高空间分辨率
 
  HORIBA 拉曼系统的真共焦性能,确保利用佳空间分辨率分析小颗粒或者薄层样品,支持3D成像。
 
1μm聚集小球超快速拉曼成像结果。
 
  左:共聚焦成像结果,获得非常清晰的小球轮廓;
 
  右:非共焦成像结果,无法将单个小球分开
 
  多种成像功能
 
  支持偏振成像、超低波数成像、PL成像等多种成像功能,全面分析样品
 
3英寸MQW半导体晶片的超快速PL图像
 
  显示发射波长(左图)和峰宽(右图)的分布情况,反映整个晶片的材料质量
 
  共23,409条光谱,总采集时间7m:10s
 
  2多种工作模式,满足样品多样化检测需求
 
  标准模式
 
  采用CCD慢扫操作,适用于信号弱样品或者单点曝光时间长于1s的样品测试
 
  SWIFTXS-Ultra 模式
 
  超快速成像,高达1400条光谱/s,适用于强信号样品
 
  SWIFTXS-HC 模式
 
  结合超快速成像和信号增强功能,增加弱信号样品的信噪比和图像对比度
 
  示例1 标准模式和SWIFTXS-Ultra模式对比
 
  背景:对同一样品区域(1-6层石墨烯)做成像分布图,数据点皆为28080条光谱
 
  结果:
 
  ·使用标准模式精细扫描,需要1个多小时
 
  ·使用 SWIFTXS-Ultra 模式,在1-2分钟内完成成像的同时,依然获得很好的层数分布信息
 
示例2 标准模式和SWIFTXS-HC模式对比
 
  背景:对聚合物小球做成像分布图,单点曝光时间为10ms/点
 
  结果:SWIFTXS-HC模式可以更地区分样品和背景噪音,从而获取更清晰分布图
 
应用实例
 
  BaSO4颗粒在HDPE聚合物基质中的3D成像图
 
  · 每点曝光时间: 50 ms
 
  · 数据点: 13,320
 
类胡萝卜素(绿色)在洋葱表皮细胞中的分布图
 
  · 每点曝光时间: 3ms
 
  · 数据点: 53000
 
赤铁矿在石英中的分布图
 
  · 每点曝光时间: 3ms
 
  · 数据点: 55695
 
刻蚀硅中的硅晶格分布,格子间距~1μm
 
  · 每点曝光时间: 1.2m
 
  · 数据点:40200
 
更多应用案例,请参考应用报告与文章
 
  典型应用
 
  材料
 
  · 二维材料层数分布
 
  · 复合材料成分分布
 
  · 材料表面修饰程度分布
 
  · 掺杂/缺陷分析
 
  生物/药物
 
  ·生物组织成分分布
 
  ·药物主成分和辅料分布
 
  ·药物多晶型分布
 
  ·药物在细胞中的分布
 
  地质
 
  ·矿物组成成分分布
 
  ·包裹体分布
 
  ·缺陷分析
 
  ·珠宝/玉石组成分布
 
  LED/半导体
 
  ·圆晶片质量控制
 
  ·应力分布
 
  ·掺杂/缺陷分析
 
  ·PL成像
 
  仪器性能
 
  1. 继承与发展了XploRA的优异性能,包括全自动切换激光器、共聚焦、高光谱分辨和高空间分辨率、自动准直和校准、一键操作、与AFM联用等
 
  2. 配备专为HORIBA优化的EMCCD:
 
  ·读谱速度可达1613条光谱/s,*超快速拉曼采集速度要求
 
  ·EM模式可对信号进行放大(高达1000倍),解决超快速成像中的积分时间短、拉曼信号弱的问题,提高成像灵敏度
 
  ·与HOIRBA的高精度自动平台(步长小至10nm)进行高速同步,减少通讯时间,实现了毫秒级别的拉曼成像
 
  ·在快速读谱时依然保持很低的读出噪音:<1e-
 
  ·非常好的线性,保证测试峰位的准确性
 
3. 以图像为中心的拉曼成像软件,提供无以伦比的采集速度、实时成像分析、巨量数据流的快速分析、多变量分析、3D数据分析等。
 
地质包裹体的3D成像图,显示石英基底、水相CO2和气相CO2的分布
 

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