测试合金仪器

手持式仪器资料：

详细信息

合金分析仪用途及应用领域
用于现场，无损，快速，准确分析检测合金元素和合金pai号的识别。
•  合金材料鉴别（PMI）

•  废旧金属回收

•  质量保证与质量控制（QA/QC）
分析模式及其所分析的元素范围
元素分析范围：从22号元素钛到94号元素钚Pu，仪器标准配置元素如下。
Alloy PLUS模式：Mg、Al、Si、P、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等元素。
FastID快速识别模式：384种标准合金pai号等级及客户自定义300多种合金pai号等级。
(可以根据客户需要增加其他元素)

的技术性能
• 的X射线管，无压电源线，无RF噪音干扰。更好的X射线屏蔽。
•  整机使用铝合金固定和保护，顶部加开槽式散热装置，根本性解决XRF仪器存在的散热问题。
•  工业级触摸显示屏与主机一体化密封设计，坚固耐磨，不易划伤。
•  显示屏采用白光显示技术，强烈阳光下也能清晰显示，且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析软件。
•  超大的图标显示，菜单式驱动，使用和操作更轻松、更简单。
•  更快的分析速度，2秒即显示分析结果，可现场查看光谱。
•  现场获取校准曲线。
•  采用多光束技术，使轻质元素的分析效果达到佳。
•  集成的气压计。
•  内置加速器，即节能，又可延长仪器使用寿命。
•  超大内存2G存储器
•  浮点运算、CPU532M，ARM1136-MX31处理器
•  仪器可存储电能，更换电池时无须关机。

台式仪器资料：

性能特点
效超薄窗X光管，指标达到水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
标准配置
效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
内置清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构

测试合金仪器